詳細摘要： 激光橢偏儀 SE 400adv 測量透明薄膜的厚度和折射率指數，具有測量速度、亞埃級別的厚度精度和折射率測定的精度。多角度測量允許使用激光橢偏儀 SE 400a...
產品型號：SE 400adv所在地：上海更新時間：2024-02-14 在線留言污水處理設備 污泥處理設備 水處理過濾器 軟化水設備/除鹽設備 純凈水設備 消毒設備|加藥設備 供水/儲水/集水/排水/輔助 水處理膜 過濾器濾芯 水處理濾料 水處理劑 水處理填料 其它水處理設備
上海德竹芯源科技有限公司
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產品型號：SE 400adv所在地：上海更新時間：2024-02-14 在線留言
詳細摘要： 光譜橢偏儀 SENpro 具有操作簡單，測量速度快，能對不同入射角的橢偏測量數據進行組合分析等特點。光譜范圍為 370 到 1050 nm。SENpro 的光譜...
產品型號：SENpro所在地：上海更新時間：2024-02-13 在線留言
詳細摘要： SENresearch 4.0 是 SENTECH 新的光譜橢偏儀。每一臺 SENresearch 4.0 光譜橢偏儀都是根據客戶具體配置的光譜范圍、選項和現場...
產品型號：SENresearch 4.0所在地：上海更新時間：2024-02-12 在線留言
詳細摘要： nanoTOF 3 是新一代的 TOF-SIMS，擁有新外觀、緊湊設計，以及更強性能。
產品型號：nanoTOF 3所在地：上海更新時間：2023-10-10 在線留言
詳細摘要： 高分辨率X射線衍射儀，主要用途為測量 Si, Ge, SiC, GaN, InGaN, AlGaN, GaAs, InP, AlN, GaSb 等化合半導體材料...
產品型號：XPert3 MRD所在地：上海更新時間：2023-10-03 在線留言
詳細摘要： Strain Viewer 內應力檢測儀具備透光材料內應力分布測量及缺陷篩查等檢測功能。
產品型號：SV50 / SV200所在地：上海更新時間：2023-09-28 在線留言
詳細摘要： 動態二次離子質譜儀（D-SIMS）是使用一次離子束（通常是Cs源）轟擊樣品表面，而產生二次離子，然后用質譜分析儀分析二次離子的質荷比（m/q），從而得知元素在樣...
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