污水處理設(shè)備 污泥處理設(shè)備 水處理過濾器 軟化水設(shè)備/除鹽設(shè)備 純凈水設(shè)備 消毒設(shè)備|加藥設(shè)備 供水/儲水/集水/排水/輔助 水處理膜 過濾器濾芯 水處理濾料 水處理劑 水處理填料 其它水處理設(shè)備
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產(chǎn)品型號XPert3 MRD
品 牌
廠商性質(zhì)其他
所 在 地上海
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更新時間:2023-10-03 10:53:05瀏覽次數(shù):228次
聯(lián)系我時,請告知來自 環(huán)保在線高分辨率X射線衍射儀,主要用途為測量 Si, Ge, SiC, GaN, InGaN, AlGaN, GaAs, InP, AlN, GaSb 等化合半導(dǎo)體材料的單晶和外延層材料的結(jié)晶完整性,外延層及相應(yīng)半導(dǎo)體器件結(jié)構(gòu)的組分、厚度、弛豫度等參數(shù)的測定,外延結(jié)構(gòu)的晶格失配及應(yīng)變狀態(tài)分析,X-Y map均勻性分析,雙軸晶和三軸晶X射線衍射,對稱和非對稱掃描,Out-of-plane 和 In-plan......
設(shè)備功能
● 倒易空間掃描(RSM) – 一分鐘完成自動掃描及自動分析
● 高分辨衍射(HRXRD) – W/2T,2T/W,2T……掃描
● 搖擺曲線(Rocking Curve) – W 掃描
● 反射率(XRR) – 材料密度,厚度,粗糙度(Option)
● 晶格參數(shù)(Lattice parameter),晶向(Orientation)及晶面鑒定(Reflection plane)
● 切角(Off-Cut)及平辺方向(Flat)鑒定
● 晶體缺陷鑒定(Defect)
● 曲率半徑鑒定(Curvature)
● 應(yīng)力(Strain)及弛裕度(relaxation)鑒定
● 晶格失配率鑒定(Mismatch)
● 成份分析,厚度分析
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