上海德竹芯源科技有限公司

當(dāng)前位置：上海德竹芯源科技有限公司>>半導(dǎo)體檢測(cè)設(shè)備>>nanoTOF 3 飛行時(shí)間質(zhì)譜儀

nanoTOF 3 飛行時(shí)間質(zhì)譜儀

返回列表頁(yè)

參考價(jià)

面議

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號(hào)nanoTOF 3

品牌

廠商性質(zhì)其他

所在地上海

在線詢價(jià) 收藏產(chǎn)品查看聯(lián)系電話

聯(lián)系方式：查看聯(lián)系方式

更新時(shí)間：2023-10-10 10:49:18瀏覽次數(shù)：297次

聯(lián)系我時(shí)，請(qǐng)告知來(lái)自環(huán)保在線

產(chǎn)品分類 品牌分類

  半導(dǎo)體檢測(cè)設(shè)備

全部產(chǎn)品列表

暫無(wú)信息

上海德竹芯源科技有限公司

經(jīng)營(yíng)模式：其他

商鋪產(chǎn)品：9條

所在地區(qū)：

詢價(jià) 給他留言

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

nanoTOF 3 是新一代的 TOF-SIMS，擁有新外觀、緊湊設(shè)計(jì)，以及更強(qiáng)性能。

詳細(xì)介紹

關(guān)鍵技術(shù)

● 實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量的一次離子槍

● 三重離子束聚焦質(zhì)量分析器，復(fù)雜形貌樣品的高精度分析

● TOF-SIMS 自動(dòng)多樣品測(cè)試

● 的離子束技術(shù)

● 通過(guò)平行成像 MS/MS 進(jìn)行分子結(jié)構(gòu)分析

● 可靠的遠(yuǎn)程訪問(wèn)功能，即使在遠(yuǎn)離設(shè)備的情況下也能進(jìn)行“測(cè)量"和“診斷"

● 多樣化配置

實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量的一次離子槍

的離子束技術(shù)，實(shí)現(xiàn)高空間分辨率

● PHI nanoTOF3 能提供高質(zhì)量分辨和高空間分辨的 TOF-SIMS 分析：在高質(zhì)量分辨模式下，其空間分辨率優(yōu)于 500 nm；在高空間分辨模式下，其空間分辨模式優(yōu)于 50 nm。通過(guò)結(jié)合高強(qiáng)度離子源、高精度脈沖組件和高分辨率質(zhì)量分析器，可實(shí)現(xiàn)低噪聲、高靈敏度和高質(zhì)量分辨率的測(cè)量。

三重離子束聚焦質(zhì)量分析器(TRIFT)，復(fù)雜形貌樣品的高精度分析

三重離子束聚焦質(zhì)量分析器，適用于寬帶通能量、寬立體接受角度、各種形貌樣品分析

● 主離子束激發(fā)的二次離子會(huì)以不同角度和能量從樣品表面飛出，特別是對(duì)于有高度差異和形貌不規(guī)則的樣品，即使相同的二次離子在分析器中會(huì)存在飛行時(shí)間上的差異，因此導(dǎo)致質(zhì)量分辨率變差，并對(duì)譜峰形狀和背景產(chǎn)生影響。

● TRIFT 質(zhì)量分析器可同時(shí)對(duì)二次離子發(fā)射角度和能量進(jìn)行校正，保證相同二次離子的飛行時(shí)間一致，所以 TRIFT 兼顧了高質(zhì)量分辨率和高檢測(cè)靈敏度優(yōu)勢(shì)，對(duì)于不平整樣品的成像可以減少陰影效應(yīng)。

TOF-SIMS自動(dòng)多樣品測(cè)試

Queue Editor實(shí)現(xiàn)多樣品自動(dòng)測(cè)試

● 您可以輕松創(chuàng)建和編輯包括質(zhì)譜分析、成像分析和深度剖析在內(nèi)的所有測(cè)試方案。測(cè)試方案中除了測(cè)試條件外，還包括測(cè)試位置的信息。在創(chuàng)建測(cè)試序列后，程序可根據(jù)測(cè)試方案自動(dòng)進(jìn)行多樣品多點(diǎn)分析。

全自動(dòng)樣品傳送系統(tǒng)

● PHI nanoTOF 3 配置了在 XPS 的Q系列上表現(xiàn)優(yōu)異的全自動(dòng)樣品傳送系統(tǒng)：樣品尺寸可達(dá) 100mm × 100mm，而且分析室標(biāo)配內(nèi)置樣品托停放裝置；結(jié)合分析序列編輯器（Queue Editor），可以實(shí)現(xiàn)對(duì)大量樣品的全自動(dòng)連續(xù)測(cè)試。

離子束技術(shù)

采用新開發(fā)的脈沖氬離子槍，獲得的自動(dòng)荷電雙束中和技術(shù)

● TOF-SIMS 測(cè)試的大部分樣品為絕緣樣品，而絕緣樣品表面通常有荷電效應(yīng)。PHI nanoTOF 3 采用自動(dòng)荷電雙束中和技術(shù)，通過(guò)同時(shí)發(fā)射低能量電子束和低能量氬離子束，可實(shí)現(xiàn)對(duì)任何類型和各種形貌的絕緣材料的真正自動(dòng)荷電中和，無(wú)需額外的人為操作。

標(biāo)配離子槍新增FIB(Focused Ion Beam)功能

● 在 PHI nanoTOF 3 中，液態(tài)金屬離子槍增加了 FIB 處理新功能，可使用單個(gè)離子槍進(jìn)行橫截面處理和橫截面 TOF-SIMS 分析。
● 通過(guò)操作計(jì)算機(jī)，可快速輕松地完成從 FIB 處理到 TOF-SIMS 分析的全過(guò)程。此外，也具備冷卻條件下 FIB 加工能力。

通過(guò)平行成像MS/MS進(jìn)行分子結(jié)構(gòu)分析

MS/MS平行成像同時(shí)采集MS1/MS2數(shù)據(jù)（）

● 在 TOF-SIMS 測(cè)試中，MS1 質(zhì)量分析分析器接收從樣品表面產(chǎn)生的所有二次離子碎片，對(duì)于質(zhì)量數(shù)接近的大分子離子，MS1 譜圖難以區(qū)分。通過(guò)安裝串聯(lián)質(zhì)譜 MS2，對(duì)于特定離子進(jìn)行碰撞誘導(dǎo)解離生產(chǎn)特征離子碎片，MS2 譜圖可以實(shí)現(xiàn)對(duì)分子結(jié)構(gòu)的進(jìn)一步鑒定。

● PHI nanoTOF 3 具備串聯(lián)質(zhì)譜 MS/MS 平行成像功能，可同時(shí)獲取分析區(qū)域的 MS1 和 MS2 數(shù)據(jù)，為分子結(jié)構(gòu)的精準(zhǔn)分析提供了強(qiáng)有力的工具。

可靠的遠(yuǎn)程訪問(wèn)功能，即使在遠(yuǎn)離設(shè)備的情況下也能進(jìn)行“測(cè)量"和“診斷"

遠(yuǎn)程訪問(wèn)實(shí)現(xiàn)對(duì)儀器的遠(yuǎn)程控制

● PHI nanoTOF 3 允許通過(guò)局域網(wǎng)或互聯(lián)網(wǎng)訪問(wèn)儀器。只需將樣品臺(tái)放入進(jìn)樣室，就可以對(duì)進(jìn)樣、換樣、測(cè)試和分析等所有操作進(jìn)行遠(yuǎn)程控制。我們的專業(yè)人員可對(duì)儀器進(jìn)行遠(yuǎn)程診斷。