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無接觸體電阻率型號測試儀（TRM-100）
HS-TRM-100型無接觸式電阻率型號測試儀是基于渦流（Eddy Current）測試技術，能夠對硅料、硅棒、硅錠及硅片進行無接觸、無損傷的體電阻率測試。
型號：所在地：北京市參考價：面議更新時間：2018/1/22 5:40:50 對比

無接觸體電阻率型號測試儀
電池片數片機
產品介紹:太陽能電池片數片機，可對太陽能硅片及電池片進行準確計數分析。是一款簡潔、高效、精確、高品質的數片機。同時可配合barcode系統進行產品管理，避免數量...
型號：所在地：北京市參考價：面議更新時間：2018/1/18 11:59:02 對比

硅片電池片數片
硅料綜合測試儀
本儀器是運用四探針測量原理的多功能綜合測試裝置，它可以測量片狀、塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率，適用于半導體及太陽能行業的篩選。
型號：所在地：北京市參考價：面議更新時間：2018/1/18 8:10:13 對比

電阻率型號測試
手動無接觸硅片測試儀（HS-NCS-300）
手動硅片測試儀可以測量硅片厚度、總厚度變化TTV、彎曲度，該儀器適用于Si，GaAs，InP，Ge等幾乎所有的材料，所有的設計都符合ASTM(美國材料實驗協會)...
型號：所在地：北京市參考價：面議更新時間：2018/1/15 10:00:02 對比

無接觸硅片測試儀
坩堝涂層氮化硅
■涂噴在坩堝表面，在加熱作用下，使液態氮化硅均勻的吸附坩堝表面，形成粉狀涂層，■涂層目的是保護石英坩堝在高溫下石英坩堝與硅隔離，使液態硅不與石英坩堝反應，而使石...
型號：所在地：北京市參考價：面議更新時間：2018/1/8 0:42:07 對比

坩堝涂層氮化硅
SS50AAA-PLC太陽模擬器
SS50AAA-PLC太陽模擬器是用來模擬太陽輻照度和頻譜的設備。太陽模擬器廣泛應用于太陽能電池特性測試，光電材料特性測試，生物化學相關測試，光學催化降解加速研...
型號：所在地：北京市參考價：面議更新時間：2018/1/7 19:47:46 對比

太陽模擬器
HS-POSRT大量程電阻率測試儀
HS‐POSRT原生多晶電阻率測試儀是一款電阻率測試儀器，具有電阻率大量程及超大量程測量的特點，實現了電阻率從0.0001歐姆.厘米到幾萬歐姆.厘米（可擴展）的...
型號：所在地：北京市參考價：面議更新時間：2017/12/30 20:38:21 對比

大量程電阻率測試儀
金屬四探頭電阻率方阻測試儀
用來測量半導體材料(主要是硅單晶、鍺單晶、硅片)電阻率，以及擴散層、外延層、ITO導電薄膜、導電橡膠方塊電阻的測量儀器。
型號：所在地：北京市參考價：面議更新時間：2017/12/29 22:40:56 對比

電阻率方阻測試儀
SiC晶種（籽晶）
SiC的物理和電學屬性使其成為短波長光電、高溫、耐輻射、高功率/高頻率電子器件的*半導體材料。然而生長優質的SiC單晶非常困難，其中*要素就取決于SiC晶種的品...
型號：所在地：北京市參考價：面議更新時間：2017/12/25 19:22:16 對比

SiC晶種（籽晶）
PET標準太陽能電池
PET標準太陽能電池于校準太陽模擬器的輻照。也可以使用(配套設備)來衡量太陽模擬器時間穩定性和/光束的非均勻性。另外，還可以用來IV測量系統光電流強度來校準測量...
型號：所在地：北京市參考價：面議更新時間：2017/12/20 7:17:32 對比

校準太陽模擬器的輻照
雜質含量測試儀（元素含量分析）
適合于對晶體進行雜質含量測試，其主要用途是對樣品中包括Si、Fe、Mg、Ca、Ti、Na、Cu、Pb在內的多種個元素進行分析。
型號：所在地：北京市參考價：面議更新時間：2017/12/19 11:42:15 對比

藍寶石原料雜質含量分析元素含量分析
硅材料碳氧測試儀HS-OCT-2000
1）適合于硅材料的氧、碳含量的測定；2）可實現硅料中氧碳含量自動、快速、準確的測量；3）具備完整的譜圖采集、光譜轉換、光譜處理、光譜分析及輸出功能，使得操作更簡...
型號：所在地：北京市參考價：面議更新時間：2017/12/17 14:44:05 對比

氧、碳含量的測定
無接觸硅片厚度TTV電阻率綜合測試系統（PV-1000）
PV-1000系列無接觸硅片厚度TTV電阻率綜合測試系統為太陽能/光伏硅片及其他材料提供快速、多通道的厚度、（總厚度變化）TTV、翹曲及無接觸電阻率測量功能。并...
型號：所在地：北京市參考價：面議更新時間：2017/12/16 10:14:03 對比

無接觸硅片厚度TTV電阻率綜合測試
藍寶石缺陷觀測儀
以上產品可以非常方便的對藍寶石晶體及晶片的缺陷進行宏觀觀測。是晶體初期檢測及篩選的有效手段，為分析缺陷和改進工藝提供了高效的工具。
型號：所在地：北京市參考價：面議更新時間：2017/12/14 19:00:50 對比

藍寶石晶體及晶片的缺陷進行宏觀觀測
母合金
■摻雜，又稱配料，摻雜的目的主要是用來改變硅熔體中施主雜質（如磷）或受主雜質（如硼）的雜質濃度，使其生長出的單晶電阻率達到規定的要求。所謂“母合金"就是雜質元素...
型號：所在地：北京市參考價：面議更新時間：2017/12/14 17:52:58 對比

母合金摻雜劑
硅片表面線痕深度測試儀（HS-SRT-301）
HS-SRT-301型硅片線痕深度測試儀可用于測試硅片的表面線痕深度，具有便于攜帶、觸摸屏便捷操作、液晶顯示、節能等優點，同時內置打印機和充電電池，所有設計均符...
型號：所在地：北京市參考價：面議更新時間：2017/12/13 8:41:04 對比

測試硅片的表面線痕深度
供應各種校核片、測試片、標片
供應各種校核片、測試片、標片■電阻率■型號■少子壽命■厚度■標準電池■氧碳含量……
型號：所在地：北京市參考價：面議更新時間：2017/12/13 0:45:17 對比

供應各種校核片、測試片、標片
金屬四探頭電阻率方阻測試儀 - HS-MPRT-5
本儀器用來測量硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器.本儀器按照半導體材料電阻率的及國家標準測試方法有關規定設計。
型號：所在地：北京市參考價：面議更新時間：2017/12/12 22:27:03 對比

電阻率方阻測試儀
HS-ATS-100硅片電池片自動測試架
HS-ATS-100硅片電池片自動測試架是使用單板機可編程控制，步進電機驅動，絲桿滑動，定位精確，操作方便，可隨意調節探頭的下降Z低點，上升Z高點固定，探頭在Z...
型號：所在地：北京市參考價：面議更新時間：2017/12/11 23:54:01 對比

硅片電池片自動測試架
鎵摻雜劑
■用鎵代替硼作為摻雜劑來拉制太陽電池單晶，可以提高電池的轉換效率和降低光衰減問題（因為避免了硼氧復合體－嚴重影響光衰減率的深能級的產生）。
型號：所在地：北京市參考價：面議更新時間：2017/12/11 23:37:57 對比

拉單晶鎵摻雜劑（Ga Dopant）

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