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硅料快速分選儀：HS-QSD
產品介紹:合能陽光硅料快速分選儀(HS-QSD)，是一款專門為拉單晶廠商硅料分選而設計研發的
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/3/12 11:34:37 對比
型號測試儀：HS-HCTT
產品介紹：本儀器是嚴格按照ASTMF42（非本征半導體材料導電類型的標準測試方法）中的熱探針設計的便攜式導電型號鑒別儀
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/3/12 11:33:04 對比
硅芯電阻率測試儀：HS-SFRT
產品介紹:合能陽光硅芯電阻率測試儀(HS-SFRT)，是一款測量圓柱晶體硅電阻率測試儀器，可測量硅芯，檢磷棒，檢硼棒，籽晶等，由于儀器大大消除了珀爾帖效應、塞貝...
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/3/12 11:31:30 對比
進口氧碳測試儀：HS-OCT-6700
產品介紹:我公司的經銷的美國進口硅材料氧碳含量測試儀器，所測硅料硅棒硅片氧、碳含量自動、快速、準確，可靠性高，穩定性好，一致性佳，ASTM線性度對0.0%T的偏...
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/3/12 11:29:55 對比
大量程電阻率測試儀：HS-POSRT
產品介紹：合能陽光的原生多晶電阻率測試儀(HS-POSRT)，是一款電阻率測試儀器，具有電阻率大量程及超大量程測量的特點，實現了電阻率從0.0001歐姆.厘米到...
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/3/12 11:28:40 對比
原生多晶型號測試儀：HS-PSTT
產品介紹：合能陽光原生多晶型號測試儀(HS-PSTT)，是一款半導體材料型號測試儀器，具有大量程測試范圍的特點，尤其適用于西門子法原生硅料生產企業的高阻硅料（含...
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/3/12 11:27:26 對比
硅料硼磷含量測試儀:HS-ICP-MS
產品介紹:硅料磷、硼雜質含量測試儀，其主要用途是對多晶硅料的包括磷硼含量在內的超過75個元素進行分析
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/3/12 11:25:43 對比
硅片表面線痕深度測試儀：HS-SRT-301
硅片表面線痕深度測試儀(HS-SRT-301)可用于測試硅片的表面線痕深度，具有便于攜帶、觸摸屏便捷操作、液晶顯示、節能等優點，同時內置打印機和充電電池，所有設...
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/3/12 11:24:27 對比
藍寶石偏光應力儀：PKS-250M
產品介紹:進口偏光應力儀可對透明及弱色材料的雙折射率進行檢測，并通過Senarmont補償法精確計算出光程誤差不超過10nm的雙折射率的值
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/3/12 11:22:23 對比
藍寶石缺陷觀測激光筆和偏光鏡：LP-100
產品特點：■操作非常簡單■攜帶非常簡便■可以針對多種缺陷：氣泡和夾雜物/晶體亞晶粒/裂縫/次表面特征件等等■價格低壽命長缺陷簡單分析：1．激光筆和強光手電：■光...
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/3/12 11:20:39 對比
藍寶石表面質量檢測系統：SQM-500W
產品介紹:SQM-500W表面質量檢測系統用于對樣品表面清潔質量進行檢測與分析
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/3/12 11:19:03 對比
藍寶石3D測量顯微鏡：HS-WDI-2000
產品介紹:北京合能陽光新能源技術有限公司成功地設計開發出高性能HS-WDI-2000型高級數碼正置金相顯微鏡
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/3/12 11:17:27 對比
藍寶石及碳化硅晶片平坦度及表面形態測試儀：FM-200
產品介紹:藍寶石及碳化硅晶片平坦度及表面形態測試儀為精密部件的制造商提供了業界的表面形態測量
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/3/12 11:16:11 對比
無接觸少子壽命測試儀：HS-SIM
合能陽光無接觸少子壽命測試儀(MWR-SIM)，是一款功能強大的無接觸少子壽命測試儀，能夠對單晶硅棒、多晶硅塊及硅片提供快速、無接觸、無損傷單點少子壽命測試，其...
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/3/12 11:14:24 對比
金屬四探針電阻率方阻測試儀：HS-MPRT-5
產品介紹:陽光的金屬四探頭電阻率方阻測試儀（HS-MPRT-5）是用來測量硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器....
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/3/12 11:13:08 對比
硅材料碳氧含量測試儀：HS-OCT-2000
產品特點：■適合于硅材料的氧、碳含量的測定
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/3/12 11:11:25 對比
硅片缺陷觀測儀：HS-WDI
產品介紹：硅片缺陷觀測儀(HS-WDI)，于對硅片的缺陷進行觀察，效果非常明顯，包括肉眼無法觀測的位錯、層錯、劃痕、崩邊等
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/3/12 11:09:50 對比
平整度測試系統：OWT-200
產品簡介：OWT-200平整度測試系統，采用光學方法測量晶圓、藍寶石、Sic、Si、玻璃等材質的表面特征，在無需任何接觸的情況下測量厚度、TTV、LTV、彎曲度...
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/3/12 11:08:22 對比
半自動無接觸硅片測試儀：HS-NCS-200SA
半自動無接觸硅片測試儀(HS-NCS-200SA型)可以測量硅片厚度、總厚度變化TTV、彎曲度、翹曲度、單點和總體平整度，該儀器適用于Si，GaAs，InP，G...
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/3/12 11:06:55 對比
無接觸式電阻率型號測試儀：TRM-100
無接觸式電阻率型號測試儀TRM-100是基于渦流（EddyCurrent）測試技術，能夠對硅料、硅棒、硅錠及硅片進行無接觸、無損傷的體電阻率測試
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/3/12 11:05:31 對比

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北京合能陽光新能源技術有限公司

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