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HS-phys-SimPLe半導體晶片內部缺陷檢測系統
HS-phys-SimPLe半導體晶片內部缺陷檢測系統產品介紹HS-phys-SimPLe半導體晶片內部缺陷檢測系統是專門用于包括單晶硅、碳化硅、藍寶石等半導體...
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2023/2/27 8:28:25 對比
HS-NIR-SiRod單晶硅芯長棒紅外探傷測試儀
HS-NIR-SiRod單晶硅芯長棒紅外探傷測試儀產品介紹HS-NIR-SiRod單晶硅芯長棒紅外探傷測試儀是專門用于硅芯硅棒生產中的硅棒硅芯內部的的裂縫、雜質...
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2023/2/27 8:24:41 對比
款無接觸少子壽命掃描儀：MWR-2S-3I
產品介紹:MWR-2S-3I是一款功能異常強大的無接觸少子壽命掃描測試儀，能夠對單晶硅棒、多晶硅塊及硅片提供快速、無接觸、無損傷、高分辨率的多功能掃描測試
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/3/12 11:47:49 對比
紅外探傷儀：NIR-01
紅外探傷測試儀是專門用于多晶硅片生產中的硅塊硅棒硅片的裂縫、雜質、黑點、陰影、微晶等缺陷探傷的儀器
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/3/12 11:42:04 對比
無接觸少子壽命掃描儀：MWR-2S-3
合能陽光無接觸少子壽命掃描儀(HS-MWR-2S-3)功能強大，能夠對單晶硅棒、多晶硅塊及硅片提供快速、無接觸、無損傷、高分辨率的多功能掃描測試，其通過微波光電...
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/3/12 11:39:21 對比
型號測試儀：HS-HCTT
產品介紹：本儀器是嚴格按照ASTMF42（非本征半導體材料導電類型的標準測試方法）中的熱探針設計的便攜式導電型號鑒別儀
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/3/12 11:33:04 對比
大量程電阻率測試儀：HS-POSRT
產品介紹：合能陽光的原生多晶電阻率測試儀(HS-POSRT)，是一款電阻率測試儀器，具有電阻率大量程及超大量程測量的特點，實現了電阻率從0.0001歐姆.厘米到...
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/3/12 11:28:40 對比
無接觸式電阻率型號測試儀：TRM-100
無接觸式電阻率型號測試儀TRM-100是基于渦流（EddyCurrent）測試技術，能夠對硅料、硅棒、硅錠及硅片進行無接觸、無損傷的體電阻率測試
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/3/12 11:05:31 對比

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北京合能陽光新能源技術有限公司

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