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4D泰曼格林動態干涉儀 PhaseCam ESPI 電子散斑

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產品型號PhaseCam ESPI

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廠商性質其他

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更新時間:2023-07-06 14:29:49瀏覽次數:351次

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產品簡介

產品介紹ESPI電子散斑干涉儀,用來解決漫反射表面的形變測量問題

詳細介紹

產品介紹



ESPI電子散斑干涉儀,用來解決漫反射表面的形變測量問題。PhaseCam ESPI動態電子散斑干涉儀,可以解決在現場環境下的表面沿軸向的一維形變測量問題,精度達到nm級,而不用考慮環境振動帶來的影響。 應用于大口徑拼接鏡的背部支撐材料的微變形測量。經典應用案例:美國JWST太空望遠鏡的主鏡的背部碳纖維支撐結構的微變形測量。

PhaseCam ESPI是在P6110的基礎上開發的,采用532nm高能激光光源,對樣品表面照射,表面的漫反射光進入干涉儀發生干涉,干涉圖樣為含有干涉信息的電子散斑噪聲。對兩次漫反射干涉的散斑進行波面相減操作,便可提取出樣品面形變化引起的相位信息。對該相位信息解析,就可以獲得形變量。由于采用了動態相移技術,即使在非隔振的環境下測量,也可以實現nm級測量精度。


常規屬性



系統描述:對振動不敏感的泰曼格林型動態相移干涉儀

采集模式:采用相位相關探測器的瞬時相移式

激光器:532nm CW激光,18W

ESPI照明:雙通道獨立照明,光纖耦合

相干長度 gt;35m

光束直徑:7 mm

相機像素:2000×2000 pixels

可測樣品材料:碳纖維、殷鋼、鋁等漫反射表面


系統性能



RMS重復性:
RMS精度:
測試距離:可測2m-5m

測試覆蓋范圍:Φ


配置選項


球面擴束鏡頭:F/1 to F/32;

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