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合肥廣測產品檢測研究所有限公司
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提供完整的半導體產品芯片可靠性試驗項目，協助客戶通過JEDEC、MIL—STD、AEC-Q等可靠性國際試驗標準提供完整的半導體產品可靠性試驗項目，包含技術整合咨詢、實驗設計規劃、硬件設計制作、可靠性試驗、壽命預估等一站式服務，協助客戶通過JEDEC、MIL—STD、AEC-Q等可靠性國際試驗標準。
產品可靠性又稱為信賴性或可靠度，廣泛的定義為「產品在既定的時間內以及特定的工作環境下，執行特定性能或功能，并且圓滿成功達成任務的能力」。換句話說，可靠性指的是推估產品銷售后可使用的時間，而可靠性測試的目的在于透過給予產品適當的加速應力條件(Accelerated Stress Conditions)，以縮短模擬驗證的時間，并以適當的壽命預估模式，取得有效性與正確性。
針對產品自生產至出貨使用等的壽命模式，經常以浴缸曲線圖(Bathtub Curve)來說明，如下圖。浴缸曲線中的Infant Mortality區間，雖說屬于早夭時期，但卻是在說明實際上產品的生產制造質量，這也是影響到出貨后的穩定度，是關鍵的一段時間。
廣測檢測可提供完整的半導體產品可靠性試驗項目，包含技術整合咨詢、實驗設計規劃、硬件設計制作、可靠性試驗、壽命預估等一站式服務，協助客戶通過JEDEC、MIL—STD、AEC-Q等可靠性國際試驗標準。
高溫壽命試驗 (HTOL，High Temperature Operation Life)
低溫壽命試驗 (LTOL，Low Temperature Operation Life)
早夭失效率試驗 (ELFR，Early Life Failure Rate)
可靠度試驗前處理 (Precondition Test)
溫度循環試驗 (Temperature Cycling Test)
溫濕度偏壓試驗 (Temperature Humidity Bias Test)
高低溫貯存試驗 (High / Low Temperature Storage Test)
耐熱性試驗 (Thermal Resistance Test)。
焊錫性試驗(Solderability Test)
沾錫天平試驗 (Wetting Balance Test)
推拉力試驗 (Pull / Shear Test)
無鉛制程試驗 (Pb-Free Test)
根據產品規格提供HTOL,LTOL,ELFR,HAST,THB,PTC等試驗設計硬件、材料選擇。
適用測試標準 : 協助客戶通過JEDEC、MIL—STD、AEC-Q等可靠性國際試驗標準。
適用產品范圍: 集成電路芯片、晶體管、MOS管…等。
常規樣品要求: 請聯系我們的業務，以具體標準為準。
━ 1.老化壽命試驗
━ 2.超高瓦數(功耗超過150瓦到600瓦)老化壽命試驗
━ 3.驅動芯片(Driver IC) MIPI 可靠性老化服務
━ 4.環境試驗
━ 5.車用電子可靠性試驗
━ 6.產品壽命預估
━ 7.可靠性硬件設計服務
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