陜西博微電通科技有限責任公司
詳細摘要： 可用于各類二極管（Diode）以及可控硅（SCR）的正向浪涌電流（IFSM）試驗，包括三極管（Triode）、MOSFTE、IGBT等全控器件的內置二極管的浪涌...
產品型號：BW-UIS-3500所在地：西安市更新時間：2024-06-21 在線留言
詳細摘要： BW-TRL2000車規級功率器件熱循環負載試驗臺是一種二極管熱循環負載試驗系統,廣泛應用于車規級半導體器件高溫、高濕、高壓、滿載等功率循環可靠性間歇壽命測試，...
產品型號：BW-TRL2000所在地：西安市更新時間：2024-03-07 在線留言
詳細摘要： BW-AH-5520半導體高精度自動溫度實驗系統采用特殊的結構設計，保證待測元器件區域溫度高穩定度及均勻度。采用雙高精度 RTD 溫度傳感器進行精密控溫及過溫保...
產品型號：BW-AH-5520所在地：西安市更新時間：2024-03-07 在線留言
詳細摘要： 可用于各類二極管（Diode）以及可控硅（SCR）的正向浪涌電流（IFSM）試驗，包括三極管（Triode）、MOSFTE、IGBT等全控器件的內置二極管的浪涌...
產品型號：BW-IFSM/ITSM所在地：西安市更新時間：2024-03-06 在線留言
詳細摘要： 適用于各種封裝類型的二極管、三極管、SCR、MOSFET（支持耗盡型產品）、IGBT 單管、IGBT 模塊、IPM 模塊、橋堆等進行高溫高濕反偏試驗試驗線路及試...
產品型號：BW-H3TRB-C16所在地：西安市更新時間：2024-01-10 在線留言
詳細摘要： 適用于各種封裝的IGBT、Si/SiC/GaN、MOSFET、BTJ進行K系數測試、穩態熱阻測試及功率循環試驗試驗線路及試驗方法滿足 MIL-STD-750 M...
產品型號：BW-IOL-X16M所在地：西安市更新時間：2023-12-23 在線留言
詳細摘要： 適用于 SI/SIC/GaN 芯片的各種封裝類型的二極管、三極管、SCR、MOSFET、IGBT、IPM、橋堆等半導體器件進行 HAST 試驗。符合JESD22...
產品型號：BW-HAST-H4所在地：西安市更新時間：2023-12-23 在線留言您感興趣的產品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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