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陜西博微電通科技有限責(zé)任公司
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產(chǎn)品型號BW-4022C
品 牌其他品牌
廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地西安市
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更新時間：2025-03-10 11:04:15瀏覽次數(shù)：43次
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BW-4022C半導(dǎo)體光耦/晶振/壓敏綜合測試系統(tǒng)是針對于半導(dǎo)體器件開發(fā)專用測試的系統(tǒng)，經(jīng)我公司產(chǎn)品升級與開發(fā)，可以對二極管、光電耦合器、壓敏電阻、鋰亞電池、晶振5種器件進行參數(shù)測試，性能、精度、測試范圍均滿足客戶測試需求，可用于客戶端來料檢驗、研發(fā)分析、 產(chǎn)品選型等重要檢測設(shè)備之一。
BW-4022C
半導(dǎo)體光耦/晶振/壓敏綜合測試系統(tǒng)
BW-4022C半導(dǎo)體綜合測試系統(tǒng)是針對于半導(dǎo)體器件開發(fā)專用測試的系統(tǒng)，經(jīng)我公司產(chǎn)品升級與開發(fā)，目前亦可以對二極管、光電耦合器、壓敏電阻、鋰亞電池、晶振5種器件進行參數(shù)測試，性能、精度、測試范圍均滿足客戶測試需求，可用于客戶端來料檢驗、研發(fā)分析、 產(chǎn)品選型等重要檢測設(shè)備之一。
BW-4022C 半導(dǎo)體綜合測試系統(tǒng)采用大規(guī)模 32 位 ARM&MCU 設(shè)計， PC 中文操作界面，程控軟件基于 Lab VIEW 平臺， 填充調(diào)用式菜單操作界面，測試界面簡潔 靈活、人機界面友好。配合開爾文綜合集成測試插座，根據(jù)不同器件更換測試座配合，系統(tǒng)可適配設(shè)置完成對二極管、光電耦合器、壓敏電阻、鋰亞電池、晶振5種元件的靜態(tài)參數(shù)測試。
該測試系統(tǒng)主要由測試主機和程控電腦及外部測試夾具三部分組成，并接受客戶端MES系統(tǒng)進行測試指令：方案選取/開始/暫停/停止/數(shù)據(jù)上傳等操作執(zhí)行，并可將測試數(shù)據(jù)上傳至MES系統(tǒng)由客戶端處理。
BW-4022C半導(dǎo)體綜合測試系統(tǒng)可同時針對：
【光耦】
適用于〖三極管管型光耦/可控硅光耦/繼電器光耦〗進行測試。
【二極管】
〖Diode /穩(wěn)壓Diode/ZD/SBC/TVS/整流橋堆〗進行測試。
【壓敏電阻】
〖Kelvin /Vrrm /Vdrm /Irrm /Idrm /△Vr〗進行測試。
【鋰亞電池】
〖Kelvin/電池空載電壓（Vbt）/負(fù)載電壓(Vbt_load ) /測試電流（0-10A 恒流 ）/負(fù)載電壓變化值（▲Vbt_load）/電池內(nèi)阻(Vbt Res) 等進行測試。
【晶振】
〖震蕩頻率(Freq_osc )/諧振電阻（Ri）/頻率精度(Freq_ppm)/測試頻率范圍（10kHz~10MHz）等測試。
【其他測試功能可定制拓展】
物理規(guī)格
主機尺寸：深 660*寬 430*高 210(mm) 臺式
主機重量：＜25kg
產(chǎn)品色系：白色系
工況環(huán)境
主機功耗：＜300W
海拔高度：海拔不超過 1500m；
環(huán)境要求：-20℃～60℃（儲存）、5℃～50℃（工作）；
相對濕度： 20%RH～75%RH (無凝露，濕球溫度計溫度 45℃以下)；
大氣壓力：86Kpa～106Kpa；
防護條件：無較大灰塵，腐蝕或性氣體，導(dǎo)電粉塵等；
供電要求
電源配置：AC220V±10%、50Hz±1Hz；
工作時間：連續(xù)；
· 正向電壓
· 符號：Vf
· 最小值：無
· 典型值：1.2 V
· MAX值：1.4 V
· 單位：V
· 測試條件：If=20mA
· 反向電流：
· 符號：Ir
· 最小值：無
· 典型值：無
· MAX值：10 μA
· 單位：μA
· 測試條件：Vr=4V
· 集電極暗電流
· 符號：Iceo
· 最小值：無
· 典型值：無
· MAX值：100 nA
· 單位：nA
· 測試條件：Vce-20V,If=0
· 集電極 - 發(fā)射極擊穿電壓
· 符號：BVceo
· 最小值：80 V
· 典型值：無
· MAX值：無
· 單位：V
· 測試條件：Ic-0.1mA,If=0
· 發(fā)射極 - 集電極擊穿電壓
· 符號：BVeco
· 最小值：6 V
· 典型值：無
· MAX值：無
· 單位：V
· 測試條件：Ie-10μA,,If=0
· 集電極電流
· 符號：Ic
· 最小值：2.5 mA
· 典型值：無
· MAX值：30 mA
· 單位：mA
· 測試條件：If=5mA,Vce-5V
· 電流傳輸比
· 符號：CTR
· 最小值：50 %
· 典型值：無
· MAX值：600 %
· 單位：%
· 測試條件：If=5mA,Vce-5V
· 集電極 - 發(fā)射極飽和電壓
· 符號：Vce
· 最小值：無
· 典型值：0.1 V
· MAX值：0.2 V
· 單位：V
· 測試條件：If=20mA,Ic-1mA
· 隔離電阻
· 符號：Riso
· 最小值： Ω
· 典型值： Ω
· MAX值：無
· 單位：Ω
· 測試條件：DC500V, 40 - 60% R.H.
（以上參數(shù)基于晶體管LTV-816-Cu series特性參數(shù)）
· 三極管管型光耦
可控硅光耦
繼電器光耦
2、二極管類測試
· 二極管類：二極管
二極管類：穩(wěn)壓二極管
二極管類：穩(wěn)壓二極管
二極管類：三端肖特基二極管 SBD（SchottkyBarrierDiode）
二極管類： 瞬態(tài)二極
二極管類：整流橋堆
二極管類：三相整流橋堆
3、壓敏電阻測試
· Kelvin 、Vrrm 、 Vdrm 、Irrm 、Idrm 、 △Vr ;（參數(shù)配置精度與二極管一致）
4、鋰亞電池測試
· Kelvin(0~150mV)
· 電池空載電壓（Vbt） 0-100V +-0.2%
· 負(fù)載電壓(Vbt_load ) 0-100V +-0.5% 測試電流（0-10A 恒流 ）
· 負(fù)載電壓變化值（▲Vbt_load）0-10v +-5% 測試電流（0-10A 恒流 ）
· 電池內(nèi)阻(Vbt Res) 0-10v +-5% 測試電流（0-10A 脈沖 ）
· 震蕩頻率(Freq_osc )
· 諧振電阻（Ri）
· 頻率精度(Freq_ppm)
· 測試頻率范圍（10kHz~10MHz）
測試參數(shù) | 符號 | 量程 | 測試范圍 | 測試條件 | 測量精度 |
震蕩頻率 | Fosc | 10kHz~100kHz 100kHz~1MHz 1MHz~5MHz 5MHz~10MHz | 10kHz~10MHz | 0.1Hz | |
諧振電阻 | Rz | 0~100K | ±10% | ||
頻率精度 | ppm | 0-1000 | 0.01% |
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