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半導體間歇壽命功率循環實驗系統

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參  考  價:100008
具體成交價以合同協議為準
  • 產品型號

    BW-IOL-X16M

  • 品牌

    其他品牌

  • 廠商性質

    生產商

  • 所在地

    西安市

規格

BW-HAST-H4 100008元 10件可售

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更新時間:2023-12-23 17:09:09瀏覽次數:396次

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產品簡介
產地 國產    

適用于各種封裝的IGBT、Si/SiC/GaN、MOSFET、BTJ進行K系數測試、穩態熱阻測試及功率循環試驗
試驗線路及試驗方法滿足 MIL-STD-750 Method 1037 及 AEC Q101 相關標準要求
系統平均無問題時間≥10000 小時
每通道為 48 工位,48 工位中每個工位可進行 Tj 測試

詳細介紹


BW-IOL-X16M

半導體間歇壽命溫度循環實驗系統


 ■適用于各種封裝的IGBT、Si/SiC/GaN、MOSFET、BTJ進行K系數測試、穩態熱阻測試及功率循環試驗。

 ■符合MIL-STD-750、GJB128、IEC、AEC-Q101試驗標準要求。

 ■試驗線路及試驗方法滿足 MIL-STD-750 Method 1037 及 AEC Q101 相關標準要求

 ■系統平均無問題運行時間≥10000 小時

 ■每通道為 48 工位,48 工位中每個工位可進行 Tj 測試

技術特點 Technical characteristics

 ■在試驗的過程中實時測量被試器件的結溫,并顯示max結溫、min結溫及結溫差。

 ■試驗的過程定時測量被試器件的結殼熱阻,有利于觀察試 驗過程中熱阻值的變化。

 ■設備帶有煙霧探測器,系統探測到煙霧后自動停止。

 ■所有工位并聯試驗,試驗電流保持一致;

 ■每個通道進行獨立配置,可以設置不同的試驗電流和開通關斷 時間



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