H-X系列掃描電子顯微鏡涵蓋以生物技術(shù)和納米技術(shù)為首的包括材料開發(fā)、測(cè)試、評(píng)估和缺陷分析及質(zhì)量控制等廣泛領(lǐng)域；適用于材料科學(xué)、化學(xué)化工、生命科學(xué)以及相關(guān)領(lǐng)域的研究工作，對(duì)各種材料、化工產(chǎn)品、生物制品、非金屬礦及深加工產(chǎn)品等進(jìn)行觀測(cè)分析試驗(yàn)。

詳細(xì)介紹

近年來，隨著工業(yè)電子設(shè)備線路設(shè)計(jì)日趨復(fù)雜，焊料無鉛化的日益嚴(yán)格，促使各類制造工藝的研究和應(yīng)用越來越受到重視并取得了新的發(fā)展。但各種元器件或是電路信號(hào)傳輸?shù)妮d體材料，其質(zhì)量的好壞與可靠性水平?jīng)Q定了產(chǎn)品的質(zhì)量與可靠性。但是由于成本以及技術(shù)的原因，載體材料在生產(chǎn)和應(yīng)用過程中出現(xiàn)了大量的失效問題，對(duì)于這種失效問題，我們需要得到一些失效原因分析技術(shù)，來使得各種元器件等載體材料在制造的時(shí)候質(zhì)量和可靠性水平得到一定的保證。
H-X系列掃描電子顯微鏡就是為載體材料失效分析技術(shù)的提供技術(shù)解決方案，本儀器凝聚科學(xué)家團(tuán)隊(duì)多年心血，對(duì)產(chǎn)品的外觀形態(tài)、運(yùn)控系統(tǒng)、功能結(jié)構(gòu)、人機(jī)交互關(guān)系等前沿工業(yè)科學(xué)應(yīng)用進(jìn)行集成優(yōu)化設(shè)計(jì)，運(yùn)用新技術(shù)將生產(chǎn)流程數(shù)字化、智能化，嚴(yán)格出廠標(biāo)準(zhǔn)性能測(cè)試，采用了智能測(cè)量分析系統(tǒng)軟件及高性能的微機(jī)硬件，使其具有強(qiáng)大的高速數(shù)據(jù)采集與大規(guī)模數(shù)據(jù)分析處理能力，更加提高了測(cè)試數(shù)值的準(zhǔn)確性，為用戶提供操作更精確、更標(biāo)準(zhǔn)、更高效的儀器設(shè)備。
H-X系列掃描電子顯微鏡凝聚了工業(yè)科學(xué)前沿領(lǐng)域的國(guó)際技術(shù)，新研發(fā)機(jī)型的H-X100C掃描電子顯微鏡不僅保持了H-X100系列A、B機(jī)型的極簡(jiǎn)操作性技術(shù)延續(xù)，還擁有的可擴(kuò)展性接口，其極簡(jiǎn)集成化的智能測(cè)量分析軟件系統(tǒng)更能快速完成從圖像觀察、元素分析到生成報(bào)告的連貫操作。
H-X100系列掃描電子顯微鏡由真空系統(tǒng)、電子光學(xué)系統(tǒng)、樣品室和樣品臺(tái)、電子探測(cè)器、背散射電子探頭、真空泵、自動(dòng)穩(wěn)壓器、專用工具、計(jì)算機(jī)、極簡(jiǎn)的智能測(cè)量分析系統(tǒng)軟件及附件組成的科學(xué)研究?jī)x器。

一應(yīng)用范圍
H-X系列掃描電子顯微鏡涵蓋以生物技術(shù)和納米技術(shù)為首的包括材料開發(fā)、測(cè)試、評(píng)估和缺陷分析及質(zhì)量控制等廣泛領(lǐng)域；適用于材料科學(xué)、化學(xué)化工、生命科學(xué)以及相關(guān)領(lǐng)域的研究工作，對(duì)各種材料、化工產(chǎn)品、生物制品、非金屬礦及深加工產(chǎn)品等進(jìn)行觀測(cè)分析試驗(yàn)。

二測(cè)試步驟
將測(cè)試樣品載體放入掃描電子顯微鏡樣品室中，使用高效能的加速電壓對(duì)樣品載體的測(cè)試位置進(jìn)行放大觀察觀測(cè)，并用X射線能譜分析儀對(duì)樣品進(jìn)行EDS元素定性半定量分析。

三功能特性
1）使用多點(diǎn)觸摸屏，操作舒適
通過多點(diǎn)觸控技術(shù)和智能測(cè)量分析系統(tǒng)軟件，極簡(jiǎn)科學(xué)的操作界面直觀簡(jiǎn)單，只需輕觸屏幕就能像操作智能手機(jī)一樣操控各種功能，簡(jiǎn)單快捷易懂，即使是新員工也能輕松獲得高品質(zhì)的觀測(cè)圖像進(jìn)行EDS元素分析。
2）適應(yīng)各種環(huán)境的移動(dòng)式掃描電鏡
操作員在PC上就可以進(jìn)行觀察和分析，只要移動(dòng)觸摸屏，在遠(yuǎn)離裝置的地方也能夠進(jìn)行操作控制。只需 AC100V 插座就可以安裝，用腳輪即可自由移動(dòng)。
3）的EDS能譜分析技術(shù)
·可擴(kuò)展EDS元素分析功能，并為多種探測(cè)器預(yù)留接口。
·觸控式掃描電鏡不僅功能全面，而且堅(jiān)固耐用，能夠很好的滿足不同實(shí)驗(yàn)室的需求，能夠提供高分辨率，并能夠在高真空和低真空模式下提供系列高效能的加速電壓，能夠輕松快速獲取高質(zhì)量的的二次電子和背散射電子像。
·采用新型探測(cè)技術(shù)的嵌入式智能軟件系統(tǒng)，具有面分布分析、多點(diǎn)分析、自動(dòng)漂移補(bǔ)償、線掃描等技術(shù)應(yīng)用功能。
4）的顯微鏡表面分析技術(shù)
·采用技術(shù)的顯微鏡；
·有較高的放大倍數(shù)，幾萬到幾十萬倍之間連續(xù)可調(diào)；
·有很大的景深，視野大，成像富有立體感，可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細(xì)微結(jié)構(gòu)；
·H-X系列標(biāo)配X射線能譜儀裝置，可以同時(shí)進(jìn)行顯微組織性貌的觀察和微區(qū)成分分析；
·試樣準(zhǔn)備簡(jiǎn)單；