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蘇州工業(yè)園區(qū)浩高電子科技有限公司
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更新時間:2023-07-31 19:54:22瀏覽次數(shù):173次
聯(lián)系我時,請告知來自 環(huán)保在線產(chǎn)品介紹X—ray無損檢測X射線透視檢測X-ray檢測X-ray檢測是利用X射線束透射一片來檢測其內(nèi)部焊接缺陷、短路、開路、氣泡、裂紋幾異物分析,是進行產(chǎn)品研究、失效分析、高可靠性篩選、質(zhì)量檢驗、改進工藝等有效的無損檢測方法
X—ray 無損檢測 X 射線透視檢測 X-ray 檢測
X-ray 檢測是利用X射線束透射一片來檢測其內(nèi)部焊接缺陷、短路、開路、氣泡、裂紋幾異物分析,是進行產(chǎn)品研究、失效分析、高可靠性篩選、質(zhì)量檢驗、改進工藝等有效的無損檢測方法。
應用范圍:適用于半導體芯片、PCBA、汽車電子、IC封裝、金屬材料、介質(zhì)材料如:電子元器件及印制電路板的內(nèi)部結(jié)構(gòu)、內(nèi)引線開路或短路、粘結(jié)缺陷、焊點缺陷、封裝裂紋、空洞、橋連、立碑及器件漏裝等缺陷;同時可檢測連接件、電子集成件、電纜、裝具、塑料件、鋁鑄件等的內(nèi)部結(jié)構(gòu)及缺陷。
設(shè)備參數(shù):
1. Min分辨率:0.95微米
2.影像接收器左右偏轉(zhuǎn)角度各70度,樣品臺可360度旋轉(zhuǎn)
3.系統(tǒng)放大倍數(shù):6000X、幾何放大倍數(shù):0-2400X
4.電子槍MAX電壓:160KV、電流:500uA/功率:20W
5.樣品MAX尺寸:510 * 510mm
6.檢測區(qū)域尺寸:458 * 458mm
檢測實驗室:
X射線透視技術(shù)(X-Ray)和 反射式掃描聲學顯微鏡技術(shù) (C-SAM)比較:
檢測名稱 | 應用優(yōu)勢 | 主要原理 |
X射線透視技術(shù) (X-Ray) | 以低密度區(qū)為背景,觀察材料的高密度區(qū)的密度異常點,主要用來判定引線斷裂、焊點、空洞等檢測分析手段。 | 透視X光被樣品局部吸收后 成像的異常圖片。 |
反射式掃描聲學顯微鏡技術(shù) (C-SAM) | 以高密度區(qū)為背景,觀察材料內(nèi)部空隙或低密度區(qū),主要用來判定封裝內(nèi)的空隙和芯片粘接、空洞等失效檢測分析。 | 超聲波頻率(5-100Mhz)遇到空隙受阻發(fā)射。 |
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