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離子減薄儀

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設(shè)備介紹離子減薄儀（PrecisionIonPolishingSystem），為整套TEM樣品制備的道工序，經(jīng)氬離子減薄的樣品可在TEM下直接觀察，入射角可以從10至-10，制樣速度快，能夠以最小的耗費(fèi)制備出高質(zhì)量的TEM樣品；儀器操作方便快捷；配備了低能量離子槍功能，尤其適合對(duì)能量敏感性樣品的減薄

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設(shè)備介紹

離子減薄儀（Precision Ion Polishing System ），為整套TEM樣品制備的道工序，經(jīng)氬離子減薄的樣品可在TEM 下直接觀察，入射角可以從10°至-10°，制樣速度快，能夠以最小的耗費(fèi)制備出高質(zhì)量的TEM樣品；儀器操作方便快捷；配備了低能量離子槍功能，尤其適合對(duì)能量敏感性樣品的減薄。