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上海百賀儀器科技有限公司
Leica離子減薄儀EMTIC020三重離子束的斜面切割功能為掃描電鏡分析樣品提供精確和高效的樣品制備
Leica 離子減薄儀EM TIC020三重離子束的斜面切割功能為掃描電鏡分析樣品提供精確和高效的樣品制備。
技術參數
1、減薄深度速度 1500um 120um/H
2、三束離子槍
3、高真空,內置2級泵
主要特點
1、大多數的材料都能削減到高質量的橫截面
2、TEM樣品斷面快速制用
3、大樣品制備可達到50X50X10 mm 大面積切割FIB技術
4、前機械處理工作減到最少
5、三重離子束的銑削率高,切面寬而深
6、SEM截面樣品使用EDS,WDS,AUGER AND EBSD
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