產品介紹:
NIR-PLUS/B檢測系統是一款光伏檢測的綜合分析系統,既采用紅外技術對裂紋,孔洞,微結晶,雜質和其他硬質點等進行檢測,又使用PL(光致發光)技術對雜質及缺陷分布進行檢測,對造成少子壽命降低的原因進行系統的分析。是減低生產成本,提高產品品質,促使公司競爭力革命性增長的的檢測設備。
產品特點:■ PL(光致發光)和紅外技術綜合分析,并具有3D模塊
■ 采用銦鎵砷傳感器,而非一般廠家采用固定值的模擬攝像管
具有硬件圖像校正和計算機參數控制的功能,其靈敏度好,檢測結果與實際情況一致性佳
■ 軟件系統為不同產品表面情況及尺寸提供設置菜單,無需硬件上進行設置,方便應用
■ 不僅可以探測標準尺寸的硅塊與硅片,而且可以檢測無規則尺寸的樣品
■ 可直接對單晶,多晶,非晶,化合物等各類型光伏電池進行直接檢測
■ 可應用到電池生產中的各工藝檢測,對硅塊、硅片、絨面、擴散、刻蝕、PECVD、電極印刷、燒結、電池片等各工藝進行檢測分析
■ 紅外高像素相機,高分辨;得到更多波段的信息,更真實
■ 線形光源,掃描方式收集圖像,避免常規照相的光學變形
■ 可輕易獲得單位面積上的高強度并可輕易達7suns亮度,比常規1sun具有更高的敏感度,更經濟更安全
■ 無需對線光源遮光,避免了對比度下降,信號更真實
■ 高像素紅外照相機3年免費保修或更換的承諾
■ 所有的部件的設計都達到了長期高強度使用及最小維護量的要求
■ 即使在高照明的條件下,我們的相機傳感器也幾乎沒有退化的情況
■ 有多年在歐洲生產銷售應用的經驗,產品具有優良的工業應用性
技術指標:
■ 設備尺寸: 1000mm[H]×1100mm[W]×800mm[D] +控制PC
■ 設備重量: 166公斤
■ 樣品尺寸: 210mm*210mm*450mm(硅塊)
210*210(硅片,可根據客戶要求拓展)
■ 檢測方式: 離線IR+PL檢測;一鍵式4面檢測
■ 檢測時間: 20秒(IR);10-30秒(PL,根據樣品大小決定)
■ 成像系統: 銦鎵砷紅外相機 ,溫控,積分控制, 亮度/對比度/伽瑪,感光度范圍控制
■ 分辨率: 1024 x 2304像素(12/14bit)
■ 檢測波長: 900nm-1700nm
■ 激光控制: 電腦控制電源,50A
■ 校正方式: 標準樣片校準
■ 激光系統: 具用互鎖功能的一級高功率近紅外激光系統
警示燈,報警軟件聯鎖功能
閉路水冷溫控系統,滿功率系統溫度穩定
■ 儀器控制: 接口 - 嵌入式硬件控制,USB控制靈活運用
數據格式 - “BMP"原始圖像+鏈接
測量信息的文件,資料,導出為“CSV"格式
■ 符合標準: CE,RoHs
部分公開客戶名單:
Silicio Solar - Spain
Pillar JSC - Ukraine
Q-Cell- Germany
PV Crystalox - England
DC Wafers - Spain
Lux s.r.l. – Italy
……
部分實列檢測結果
PL檢測可以輕易的檢測到黑心黑邊片,PL的優勢是全程檢測,檢測速度快,為生產節省時間和成本,提高產品品質。
通過IR和PL的共同分析,可以精確劃分硅塊的頭尾線。
(1) PL結果與uPCD少子壽命結果對比,通過擬合兩者間匹配度達98.65%
(2) PL圖像能夠直觀和準確的反應出樣品表面的問題,而uPCD不能實現
(3) PL像素可分辨0.175mm2,而uPCD僅可分辨1 mm2
通過PL系統分析,可精確定位到diffusion這一步有問題,diffusion厚度不均,滾輪damage等;后續的工藝乃至最后的電池片結果說明,厚度不均的問題在之后的環節對wafer進行了優化,最后不會明顯減低cell效率,而滾輪的damage影響到之后所有的環節,并最終影響到cell效率。如需更多內容,請聯系合能陽光,或聯系進行樣品PL檢測!