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HS-phys-SimPLe半導體晶片內部缺陷檢測系統
HS-phys-SimPLe半導體晶片內部缺陷檢測系統產品介紹HS-phys-SimPLe半導體晶片內部缺陷檢測系統是專門用于包括單晶硅、碳化硅、藍寶石等半導體...
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2023/2/27 8:28:25 對比
HS-Phys-IRis晶圓紅外檢測系統
HS-Phys-IRis晶圓紅外檢測系統產品介紹HS-Phys-IRis晶圓紅外檢測系統專門用于包括硅材料等半導體晶圓及晶環生產過程中發現晶圓內部的機械隱裂等肉...
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2023/2/27 8:26:38 對比
HS-NIR-SiRod單晶硅芯長棒紅外探傷測試儀
HS-NIR-SiRod單晶硅芯長棒紅外探傷測試儀產品介紹HS-NIR-SiRod單晶硅芯長棒紅外探傷測試儀是專門用于硅芯硅棒生產中的硅棒硅芯內部的的裂縫、雜質...
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2023/2/27 8:24:41 對比
PL光致發光測試系統：NIR-PLuS-B
產品介紹：NIR-PLUS/B檢測系統是一款光伏檢測的綜合分析系統，既采用紅外技術對裂紋，孔洞，微結晶，雜質和其他硬質點等進行檢測，又使用PL（光致發光）技術對...
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/3/13 11:08:53 對比
太陽能電池和組件在線檢測系統：PV-LIT
產品介紹:PV-LIT太陽能電池和組件在線檢測系統可對太陽能電池及完整的太陽能組件的各種缺陷進行全自動檢測
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/3/13 11:07:12 對比
太陽能電池量子效率測試儀：PVE300
產品介紹:我公司銷售的PVE300是基于Bentham公司專業的技術及25年的行業經驗，PVE300能夠快速并準確的給出分析數據，是經過市場檢驗的被廣泛應用的的...
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/3/13 11:05:57 對比
太陽能電池量子效率測試儀：PH-IQE200
產品介紹:PH-IQE200為太陽能電池光譜響應測試，或稱量子效率QE（QuantumEfficiency）測試，或光電轉化效率IPCE(Monohromati...
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/3/13 11:04:37 對比
AA*太陽能模擬器：SS50AAA-PLC
產品介紹:美國進口SS50AAA-PLC太陽模擬器是當今高等級的太陽能模擬器，的用來模擬太陽輻照度和頻譜的設備
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/3/12 11:55:32 對比
太陽能電池I-V特性分析系統：PET-CC
產品介紹:太陽能光伏電池的所有性能表征手段中，IV特性測試無疑是最直觀、效、最被廣泛應用的一種方法
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/3/12 11:53:25 對比
激光橢偏儀：PH-LE
多角度激光橢偏儀(PH-LE型)專門針對晶硅太陽能電池絨面上的減反膜測量，能夠測量薄膜厚度及其光學常數，使用632.8nm波長氦氖激光器，具有*的精確度和準確度
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/3/12 11:51:29 對比
光譜橢偏儀：PH-SE
光譜橢偏儀(PH-SE型)針對太陽能電池應用，可測量多晶硅/單晶硅絨面表面單層（二層或多層）減反射膜、和玻璃/有機基底上的薄膜太陽能電池
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/3/12 11:49:44 對比
款無接觸少子壽命掃描儀：MWR-2S-3I
產品介紹:MWR-2S-3I是一款功能異常強大的無接觸少子壽命掃描測試儀，能夠對單晶硅棒、多晶硅塊及硅片提供快速、無接觸、無損傷、高分辨率的多功能掃描測試
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/3/12 11:47:49 對比
全自動光譜橢偏儀：PH-ASE
全自動光譜橢偏儀(PH-ASE型)把使用者從煩瑣的手動調節樣品高度和傾斜度工作中解放出來，樣品對準是為了保證橢偏儀測量的可重復性和精確性
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/3/12 11:46:35 對比
電阻率型號綜合測試儀：HS-PSRT
電阻率型號綜合測試儀是運用四探針測量原理的多功能綜合測試裝置，它可以測量片狀、塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率，適用于半導體及太陽能行業的硅料,硅棒硅塊硅片的電...
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/3/12 11:44:52 對比
硅料檢測分選儀：HS-3FCII
產品介紹:合能陽光硅料檢測分選儀(HS-3FCII)，可以快速準確檢測硅料的P/N型號、重摻、電阻率和電流
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/3/12 11:43:27 對比
紅外探傷儀：NIR-01
紅外探傷測試儀是專門用于多晶硅片生產中的硅塊硅棒硅片的裂縫、雜質、黑點、陰影、微晶等缺陷探傷的儀器
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/3/12 11:42:04 對比
少子壽命測試儀：HS-CLT
合能陽光少子壽命測試儀(HS-CLT)，是一款功能強大的少子壽命測試儀，不僅適用于硅片少子壽命的測量，更適用于硅棒、硅芯、檢磷棒、檢硼棒、籽晶等多種不規則形狀硅...
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/3/12 11:40:35 對比
無接觸少子壽命掃描儀：MWR-2S-3
合能陽光無接觸少子壽命掃描儀(HS-MWR-2S-3)功能強大，能夠對單晶硅棒、多晶硅塊及硅片提供快速、無接觸、無損傷、高分辨率的多功能掃描測試，其通過微波光電...
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/3/12 11:39:21 對比
硅料分選重摻鑷：HS-MRTT
產品介紹:硅料分選重摻鑷，用于檢測硅材料的輕重摻，適用于小碎料、米粒料和各種細小廢料
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/3/12 11:37:45 對比
硅料分選重摻筆：HS-MPRT
產品介紹:硅料分選重摻筆(HS-MRPT)，用于檢測硅材料電阻率及材料的輕重摻，適用于硅材料采購
型號：所在地：參考價：面議更新時間：2022/3/12 11:36:21 對比

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