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北京北信科遠儀器有限責任公司
BX-G103系列是針對新穎研發和質量控制領域推出的型多入射角激光橢偏儀。 BX-G103系列可在單入射角度或多入射角度下對樣品進行準確測量。可用于測量單層或多層納米薄膜樣品的膜層厚度、折射率n和消光系數k;也可用于同時測量塊狀材料的折射率n和消光系數k;亦可用于實時測量納米薄膜動態生長中膜層的厚度、折射率n和消光系數k。多入射角度設計實現了納米薄膜的正規厚度測量。
產品用途:
BX-G103系列是針對研發和質量控制領域推出的型多入射角激光橢偏儀。 BX-G103系列可在單入射角度或多入射角度下對樣品進行準確測量。可用于測量單層或多層納米薄膜樣品的膜層厚度、折射率n和消光系數k;也可用于同時測量塊狀材料的折射率n和消光系數k;亦可用于實時測量納米薄膜動態生長中膜層的厚度、折射率n和消光系數k。多入射角度設計實現了納米薄膜的厚度測量。
儀器特點:
l 測量方法:Delta測量范圍0-360o,無測量死角問題(即使在0o或180o附近時也具有的準確度),也可消除粗糙表面引起的消偏振效應對結果的影響
l 原子層量級的靈敏度和準確度:新穎的采樣方法、高穩定的核心器件、高質量的制造工藝實現并保證了的準確度和穩定性
l 百毫秒量級的快速測量:在保證精度和準確度的同時,可在幾百毫秒內快速完成一次測量,可滿足快速多點檢測和批量檢測需求
l 方便的樣品對準:視頻式自準直樣品方位精密對準系統,精度高、操作方便
l 簡單方便的儀器操作:一鍵操作即可完成復雜的樣品測量和分析;按照質控要求進行數據多種導出;豐富的模型庫和材料庫方便用戶的操作;管理員/操作員不同的模式,保證儀器安全
技術參數:
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