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英國馬爾文儀器有限公司
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帕納科高分辨率x射線衍射儀：高級材料科學和納米技術，半導體材料研究和生產質量控制，可以適用各種應用，尤其適合薄膜分析，例如： 搖擺曲線分析和倒易空間Mapping， 反射率和薄膜相分析，殘余應力和織構分析， X'Pert PRO MRD/ XL 滿足半導體、LED、薄膜和高級工業材料的所有高分辨XRD分析需要。
品牌 PANALYTICAL/帕納科
帕納科高分辨率x射線衍射儀儀器簡介：
X'Pert PRO MRD/XL是高級半導體材料的標準裝備，用于： 高級材料科學和納米技術，半導體材料研究和生產質量控制，可以適用各種應用，尤其適合薄膜分析，例如： 搖擺曲線分析和倒易空間Mapping， 反射率和薄膜相分析，殘余應力和織構分析， X'Pert PRO MRD/ XL 滿足半導體、LED、薄膜和高級工業材料的所有高分辨XRD分析需要。XL可以滿足直徑達 300 mm的晶片分析，并有精密的自動晶片裝載選擇；XL成為薄膜生產發展的*的分析手段，LED的業界標準。
帕納科高分辨率x射線衍射儀可以適用各種應用，尤其適合薄膜分析，例如：
· 振動曲線分析和交互空間圖
· 反射儀和薄膜相分析
· 殘余應力和織構分析
帕納科高分辨率x射線衍射儀同已經證明的標準版本系統一樣，還有許多專門的版本：
· X'Pert PRO MRD平面衍射系統，可以測量與樣品表面垂直的晶格衍射
· X'Pert PRO Extended MRD 允許裝備 X射線鏡像和在線高分辨單色器，增強入射光束的強度。
· X'Pert PRO MRD XL 滿足半導體，薄膜和高級工業材料的所有高分辨XRD分析需要。
帕納科高分辨率x射線衍射儀技術參數：
1，功率：3kW
2，測角儀重現性：0.0001度
3，測角儀類型：T-2T
4，五維樣品臺
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