儀器簡介：
GBC Difftech帶來了真正稱得上是“材料分析器”的衍射儀，其優異的性能包括：
● 可變平行光束和聚焦幾何尺寸
● 可變粉末樣品臺和Eulerian Cradle
● 具有0.4度狹縫準直器的平行光束檢測器
● 可變狹縫聚焦檢測器和石墨單色計
● 兩個檢測器*固定安裝
● XOS多毛細管光纖產生10×10mm的準平行光束
● 平行光束半徑250mm，聚焦半徑175~250mm
● 用于紡織品和殘余應力的Eulerian Cradle
● X射線熒光檢測器可同時進行XRF和XRD分析

另外儀器還有如下*之處：
● 重量輕，帶提手，2個人即可搬運
● 革新性的諧波變速箱測角器
● 大而寬的加鉛丙烯酸聯鎖保護防護窗
● 軟件控制防護窗的開關按鈕
● 久經考驗的可靠電子學系統
● 可搬運而無需重新對準光路，尤其適合于野外作業


技術參數：
1.X射線發生器穩定性 0.005% 全負載變化，0.005% for 10% rms線性變化
2.掃描速度 多道平均，0.0002°/min~60°/min
3.光學系統 可變狹縫聚焦和平行（多毛細管）光學系統
4.平行光束 XOS多毛細管光纖，10×10mm斷面，Osmic優級d形反射鏡
5.X射線發生器功率 230 VAC±10%


主要特點：
1.織物—利用多毛細管光學系統的平行光束幾何設計提高強度10倍，粒子統計學效果改善20倍（Schulz準直儀的照射面積為5 mm2，而多毛細管光學系統的照射面積為100 mm2），無需更換樣品臺
2.薄膜—多毛細管光學系統具有內在的達到約0.3度的準直作用，因而在小角度測量時具有優異的性能，靈敏度提高5倍左右，無需狹縫，也可以使用光縫來限制照射的面積。
3.粉末，平行光束模式—無需聚焦，所以無需固定樣品高度，可以分析粗糙不規則的樣品，每個譜峰都進行校準，大角度時譜峰強度提高10倍
4.粉末，聚焦模式—高分辨率聚焦掃描，粉末樣品臺以三角支架固定安裝，高度精確可調。
5.殘余應力—細線Eulerian Cradle能達到155度，依然有很好的聚焦，峰形沒有延遲，可以獲得更好的譜峰質心測量，譜峰強度更高，其統計學效果更好，測量更快。