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EIGER2 X/XE CdTe-DECTRIS（光子計數探測器

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產品簡介

DECTRIS	0

EIGER2 XE CdTe探測器系統使終端線站能夠達到X射線研究的新高峰。為了充分利用*的新型同步輻射光源在更高能量下不斷增加的光子通量，DECTRIS（德科特思）將 EIGER2 XE CdTe 探測器系列提升到了新的極限。EIGER2 XE CdTe 9M和16M不僅提供超高的107次/秒/像素的計數率能力和第二個能量識別閾值，而且幀率也被提高到500赫茲以上。

詳細介紹

1.EIGER 2 XE CdTe

EIGER2 XE CdTe探測器系統使終端線站能夠達到X射線研究的新高峰。為了充分利用*的新型同步輻射光源在更高能量下不斷增加的光子通量，DECTRIS（德科特思）將 EIGER2 XE CdTe 探測器系列提升到了新的極限。EIGER2 XE CdTe 9M和16M不僅提供超高的10⁷次/秒/像素的計數率能力和第二個能量識別閾值，而且幀率也被提高到500赫茲以上。使用 EIGER2 XE CdTe 探測器實現您極有潛力的項目，并為未來做好準備。

2.EIGER2 X CdTe

EIGER2 X CdTe 探測器適用于需要在高能量下獲得超高分辨率和幀速率的科學家。您現在可以以75μm 的單像素級空間分辨率檢測能量高達100keV的光子。由于無死區時間讀數，您不會在幀之間丟失光子。第二個能量區分閾值允許您在兩個能量箱中對樣品進行成像或削減高次諧波，以減少背景噪音。以10⁷光子/秒/像素的超高計數率能力準備您的未來光束實驗站。

EIGER2 X CdTe探測器將超高性能與易于集成和操作結合在一起。

3.核心優勢

– 直接探測X射線，使得無圖像延遲或余輝。

– 計數速率高達107光子/秒/像素，符合第四代同步輻射光源的計數率。

– 雙能量閾值抑制噪音，提供高質量的數據。

– 在*幀速率下使用電子門控觸發技術實現快速可靠的探測。

– 多種傳感器尺寸以實現多角度覆蓋。

4.應用領域

–x射線衍射(單晶和粉末) (文章:歐洲光源ESRF的應用實例)

–現場和原位技術

–衍射顯微鏡和層析成像

–漫散射和對分布函數

–勞厄衍射

–大分子晶體學(MX)

–高壓研究（視頻: APS 的高壓 XRD 研究）

5.技術規格

	EIGER2 X CdTe					EIGER2 XE CdTe
型號	500K	1M	4M	9M	16M	9M	16M
有效面積：寬x高 [mm2]	77.1 x 38.4	77.1 X 79.7	155.1 x 162.2	233.1 x 244.7	311.1 x 327.2	233.1 x 244.7	311.1 x 327.2
像素大小 [μm2]	75 x 75
總像素數量	1028x512	1028x1062	2068 x 2162	3108 x 3262	4148 x 4362	3108 x 3262	4148 x 4362
間隙寬度, 水平/垂直（像素）	-/-	-/38	12 / 38	12 / 38	12 / 38	12 / 38	12 / 38
*大幀頻 [Hz]**	2000	2000	500	230	130	550	550
計數器深度 [ bit ]	16	16	16	16	16	16	16
讀出時間	連續讀數
點擴散函數	1 pixel
傳感器材料	CdTe
傳感器厚度 [μm]	750
能量范圍 [keV]	8-100
計數率 [ph/s/pixel]	107
尺寸（WHD）[mm3]	114 x 92 x 242	114 x 133 x 242	235 x 237 x 372	340 x 370 x 500	400 x 430 x 500	340 x 370 x 500	400 x 430 x 500
重量 [kg]	3.7	4.7	15	41	55	41	55
冷卻方式	水冷（模塊）/風冷（電子學）	水冷（模塊）/風冷（電子學）	水冷（模塊）/風冷（電子學）	水冷（模塊）/風冷（電子學）	水冷（模塊）/風冷（電子學）	水冷（模塊）/風冷（電子學）	水冷（模塊）/風冷（電子學）

**所有規格如有更改，恕不另行通知。

北京優納珂科技有限公司為您提供EIGER2 X/XE CdTe-DECTRIS（德科特思）光子計數探測器的參數、價格、型號、原理等信息，EIGER2 X/XE CdTe-DECTRIS（德科特思）光子計數探測器產地為瑞士、品牌為德科特思，型號為EIGER2 X/XE CdTe，價格為面議，更多相關信息可電話咨詢，公司客服電話7*24小時為您服務!

關鍵詞：傳感器顯微鏡