布魯克光學輪廓測量儀

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產品型號ContourGT-I

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更新時間：2022-10-29 14:47:38瀏覽次數：400次

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上海瓦克儀器有限公司

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產品簡介

ContourGT-I三維光學顯微鏡集三十年表面測量之大成，集合到一臺桌面型系統上，實現面向生產自動化需要，測量角度靈活的成像質量，和已經驗證的可定標的穩定測試性能

詳細介紹

ContourGT-I 三維光學顯微鏡集三十年表面測量之大成，集合到一臺桌面型系統上，實現面向生產自動化需要，測量角度靈活的成像質量，和已經驗證的可定標的穩定測試性能。通過掃描頭傾斜，該系統可解決傾斜樣品臺測試時引起的樣品位置變化，從而輕松實現在一定角度內自動傾斜對表面特征進行測量。Vision64 軟件結合改進的樣品臺進一步提高了使用的方便性，更有效地提高用戶的測試效率。ContourGT-I 可立刻測試各種樣品，在桌面型系統上實現了各種特性。

實現更快，更簡便測量

>自動光學傾斜測量頭
>全自動X,Y, Z樣品臺
>自動光鏡轉塔，放大鏡，和測試光選擇

更靈活而穩定的防震

>集成式充氣式防震臺
>高穩定度，空間節省

更強大的測量和分析

>簡單明了，人性化的工作流程
>實時自動優化測量
>完整的數據分析軟件包
>可定制的分析報告

測量高效

傾斜測量頭為用戶提供了大的靈活性，實現快速測量和觀察。通過在在顯微鏡頭中結合頭部傾斜功能，實現了將觀察位置始終保持在焦平面處，為用戶實際使用時帶來了很大便利。
準確追蹤和使用的簡便性對于在不同表面上快速檢測是至關重要的，這樣在批量測試時速度也大大提高。

臺階高度準確性

這一特點結合樣品臺與物鏡的電動控制使得Contour GT-I 成為了具有較小占地卻能同時滿足多種測試要求的測量平臺。

方便靈活的測量方式

除上述優點外，ContourGT-I通過直接在機臺上集成防震系統，使其直接滿足各種環境條件，包括工廠，實現迅速準確地測量。
這一經過嚴格測試的防震系統為用戶提供優化測試條件，從而得到重復性的定量數據。