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深圳市藍星宇電子科技有限公司


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聯系人:廖總

  • JEM-ARM200F NEOARM 原子級分辨率透射電子顯微鏡

    詳細摘要: JEM-ARM200F NEOARM 原子級分辨率透射電子顯微鏡,標配了日本電子獨自開發的冷場發射電子槍(Cold-FEG)和全新的高階球差校正器(ASCOR)...

    產品型號:所在地:更新時間:2022-12-21 在線留言

  • ALPHA II FTIR 傅立葉變換近紅外光譜儀

    詳細摘要: 德國Bruker ALPHA II FTIR 傅立葉變換近紅外光譜儀,具有操作FTIR光譜儀的新方法。使用集成的平板電腦和專用的OPUS-TOUCH用戶界面,只...

    產品型號:所在地:更新時間:2022-12-19 在線留言

  • JEM-1000 超高壓透射電子顯微鏡

    詳細摘要: JEM-1000 超高壓透射電子顯微鏡,由于超高壓透射電子顯微鏡的加速電壓很高電子波長很短,即使增大物鏡極靴之間的間隙,也能獲得高分辨率的圖像。此外,電子束具有...

    產品型號:所在地:更新時間:2022-12-19 在線留言

  • Thermo Nicolet™ iS™ 5N 傅里葉變換近紅外光譜儀

    詳細摘要: Thermo Nicolet iS 5N 傅里葉變換近紅外光譜儀,大型開口式樣品室可容納各種各樣的樣品及采樣附件。

    產品型號:所在地:更新時間:2022-12-18 在線留言

  • 布魯克 DektakXT 臺階儀(探針式表面輪廓儀)

    詳細摘要: 布魯克 DektakXT 臺階儀(探針式表面輪廓儀)設計創新,實現了更高的重復性和分辨率,垂直高度重復性高達 5。第十代 DektakXT臺階儀(探針式表面輪廓...

    產品型號:所在地:更新時間:2022-12-03 在線留言

  • nano-FTIR納米傅里葉紅外光譜儀

    詳細摘要: 德國neaspec 納米傅里葉紅外光譜儀nano-FTIR:具有10nm空間分辨率的納米級紅外光譜儀,散射型近場光學技術發展出來的nano-FTIR納米傅里葉紅...

    產品型號:所在地:更新時間:2022-12-02 在線留言

  • SE 800 PV 激光橢偏儀

    詳細摘要: SE 800 PV 激光橢偏儀,SENTECH設計了SE 800 PV,用于表征由SiNx/SiO2、SiNx/SiNy或SiNx/Al2O3組成的多層鈍化膜和...

    產品型號:所在地:更新時間:2022-11-26 在線留言

  • ContoruGT光學輪廓儀

    詳細摘要: 德Bruker光學輪廓儀ContoruGT-表面量測系統-供生產QC/QA及研發研用的非接解觸型光學輪廓儀

    產品型號:所在地:更新時間:2022-11-26 在線留言

  • SE 400adv PV 激光橢偏儀

    詳細摘要: 激光橢偏儀SE 400adv PV.是化使用的標準儀器,用于測量PV單層防反射涂層的厚度和折射率指數。特別用于表征單晶和多晶硅太陽能電池上的SiNx 防反射單層...

    產品型號:所在地:更新時間:2022-11-25 在線留言

  • Contour X 白光干涉光學輪廓儀

    詳細摘要: 布魯克Bruker白光干涉光學輪廓儀 Contour X, 滿足微納米表面測量需要

    產品型號:所在地:更新時間:2022-11-25 在線留言

  • SE 500adv 激光橢偏儀

    詳細摘要: 激光橢偏儀SE 500adv,橢偏儀SE 500adv將激光橢偏儀和反射儀結合在一個系統中。這種組合允許零度反射法用于快速薄膜分析,并且允許透明膜以激光橢偏儀的...

    產品型號:所在地:更新時間:2022-11-24 在線留言

  • ContourX-200 三維光學輪廓儀

    詳細摘要: ContourX-200 三維光學輪廓儀,靈活的臺式表面形貌測量設備

    產品型號:所在地:更新時間:2022-11-24 在線留言

  • 激光橢偏儀 SE 400adv

    詳細摘要: 激光橢偏儀 SE 400adv,激光橢偏儀SE 400adv測量透明薄膜的厚度和折射率指數,具有測量速度、亞埃級別的厚度精度和折射率測定的精度。多角度測量允許使...

    產品型號:所在地:更新時間:2022-11-23 在線留言

  • SENDURO 全自動光譜橢偏儀

    詳細摘要: SENDURO 全自動光譜橢偏儀,包括基于測量處方的僅在幾秒鐘內即可完成的快速數據分析。橢圓儀的設計是為了便于操作:放置樣品,自動樣品對準,自動測量和分析結果。...

    產品型號:所在地:更新時間:2022-11-22 在線留言

  • SENDIRA紅外光譜橢偏儀

    詳細摘要: SENDIRA紅外光譜橢偏儀,振動光譜的特點是傅立葉紅外光譜儀FTIR。測量紅外分子振動模的吸收譜帶,分析長分子鏈的走向和薄膜的組成。紅外光譜橢偏儀適用于測量導...

    產品型號:所在地:更新時間:2022-11-21 在線留言

  • 光譜橢偏儀SENpro

    詳細摘要: 德國 Sentech 低成本高效益的光譜橢偏儀SENpro,SENpro橢偏儀是橢偏儀應用的智能解決方案。它具有角度計,入射角度步進值5。操作簡單,快速測量和直...

    產品型號:所在地:更新時間:2022-11-20 在線留言

  • 光譜橢偏儀SENresearch 4.0

    詳細摘要: 德國Sentech SENresearch 4.0 用于光譜橢偏儀,在寬的光譜范圍從190nm(深紫外)到3,500 nm(近紅外)。每一臺SENresearc...

    產品型號:所在地:更新時間:2022-11-19 在線留言

  • JCM-7000 NeoScope™ 臺式掃描電子顯微鏡

    詳細摘要: JCM-7000 NeoScope 臺式掃描電子顯微鏡,是以誰都可以操作的SEM/EDS為理念的臺式掃描電子顯微鏡, 標配Zeromag、Live analys...

    產品型號:所在地:更新時間:2022-11-02 在線留言

  • Nicolet™ iN™ 10 MX 顯微紅外成像光譜儀

    詳細摘要: Nicolet iN 10 MX 顯微紅外成像光譜儀,采用一體化、高效光學設計,改善了常規單點測量的速度和靈敏度以及化學成像數據的質量。

    產品型號:所在地:更新時間:2022-09-14 在線留言

  • KLA納米壓痕儀 G200, G200X,iMicro

    詳細摘要: Nano Indenter G200Nano Indenter G200系統專為各種材料的表征和開發過程中進行納米級測量而設計。 該系統是一個*可升級,可擴展且...

    產品型號:所在地:更新時間:2022-09-12 在線留言

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