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更新時(shí)間：2022-11-25 15:26:57瀏覽次數(shù)：156次
聯(lián)系我時(shí)，請(qǐng)告知來(lái)自 環(huán)保在線激光橢偏儀SE 400adv PV.是化使用的標(biāo)準(zhǔn)儀器，用于測(cè)量PV單層防反射涂層的厚度和折射率指數(shù)。特別用于表征單晶和多晶硅太陽(yáng)能電池上的SiNx 防反射單層膜的性能。該儀器用于SiNx涂層和薄鈍化層SiO2和Al2O3的質(zhì)量控制。
激光橢偏儀SE 400adv PV
SE 400adv PV是化使用的標(biāo)準(zhǔn)儀器，用于測(cè)量PV單層防反射涂層的厚度和折射率指數(shù)。特別用于表征單晶和多晶硅太陽(yáng)能電池上的SiNx 防反射單層膜的性能。該儀器用于SiNx涂層和薄鈍化層SiO2和Al2O3的質(zhì)量控制。
防反射涂層的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)
目前國(guó)內(nèi)外已有330多臺(tái)SE 400adv PV激光橢偏儀用于表征防反射膜。
粗糙表面分析
高靈敏度和超低噪聲檢測(cè)允許在非理想，雜散光造成表面的測(cè)量，典型的紋理單晶和多晶硅太陽(yáng)能電池。
高度準(zhǔn)確
SE 400adv PV激光橢偏儀具有穩(wěn)定的激光光源、穩(wěn)定的溫度補(bǔ)償裝置、超低噪聲探測(cè)器，因而具有的穩(wěn)定性和精度。
多角度激光橢偏儀SE 400adv PV在632.8nm的氦氖激光波長(zhǎng)下，在紋理化的單晶和多晶硅片上提供防反射單膜的膜厚和折射率?？筛鼡Q的晶片載片器允許對(duì)多晶晶片和堿性織構(gòu)的單晶晶片進(jìn)行測(cè)量。
激光橢偏儀SE 400adv PV特別適用于分析SiNx、ITO、TiO2薄膜以及SiO2和Al2O3薄膜鈍化層。雙層堆疊膜可以在光滑的基板上進(jìn)行分析。
SE 400adv PV是一種緊湊的儀器，快速上升和運(yùn)行。SENTECH簡(jiǎn)單易用，基于配方的軟件包括符合研發(fā)和生產(chǎn)環(huán)境質(zhì)量控制要求的預(yù)定義應(yīng)用程序的綜合包。
一種用于光伏應(yīng)用的便攜式激光橢偏儀可用于在整個(gè)生產(chǎn)線運(yùn)行之前，建立和測(cè)試大型PECVD設(shè)備。
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