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采用低加速電壓切割、拋光、研磨來制備無損的
l 利用樣品交換室和液氮冷卻載物臺，為電子束敏感樣品定制了快速工作流程
l 對拋光過程進(jìn)行實時觀察，期間使用了帶數(shù)字成像功能的光學(xué)顯微鏡。可利用 Gatan 的 DigitalMicrograph® 軟件存儲和分析圖像
l 10 英寸彩色觸摸屏界面顯示 Ilion™ II 配方，確保操作中得到可重復(fù)的結(jié)果
l 極其適用制備陰極發(fā)光和 EBSD 等分析技術(shù)的無損表面，因為這些分析信號在樣品的極表面產(chǎn)生
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精密離子切割拋磨系統(tǒng)Ilion II—Gatan 697
采用低加速電壓切割、拋光、研磨來制備無損的SEM截面樣品請輸入賬號
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