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NKD7000系列薄膜分析系統(tǒng)

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更新時間：2021-07-29 16:23:23瀏覽次數(shù)：159次

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產(chǎn)品簡介

英國AQUILA公司NKD7000系列薄膜分析系統(tǒng) 型號：NKD7000 產(chǎn)地：歐洲技術參數(shù) 1

詳細介紹

英國AQUILA公司NKD7000系列薄膜分析系統(tǒng)

型號：NKD7000 產(chǎn)地：歐洲

技術參數(shù)

1.波長范圍：280nm-2500nm
2.光譜分辨率：1或2nm (可選)
3.層數(shù)：多層
4.薄膜厚度范圍：5nm - 20μm
5.基體：透明，半透明或半吸收

主要特點

1.同時測量反射和透射光譜
2.一體化的控制和分析軟件，計算基體中的多種反射
3.數(shù)據(jù)分析可選用一系列散射模型
4.內(nèi)置涂層性能數(shù)據(jù)庫，可編輯，可擴展
5.變角度測量，微光斑測量，樣品可控溫，樣品掃描測試

儀器介紹

英國Aquila公司的薄膜分析解決方案供應商。

其NKD系列薄膜分析系統(tǒng)是一臺專為表征和分析薄膜涂層和基片而設計的光譜儀。適合測量多層薄膜的光學性能n（折射指數(shù)）和k（消光系數(shù)），以及d（厚度）。

適合多種薄膜材料：介電、聚合物、半導體和金屬。

主要應用在光學涂層, 半導體加工, 平板顯示器, 數(shù)據(jù)存儲產(chǎn)品, 建筑和高附加值玻璃, 包裝和裝飾材料, 光電器件等領域。

選件豐富，包括軟件選擇入射偏振光及其角度，甚至直徑大到100mm的樣品的X-Y方向上的自動掃描呈像。

關鍵詞：光譜儀顯示器

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