漫反射，是投射在粗糙表面上的光向各個方向反射的現象。當一束平行的入射光線射到粗糙的表面時，表面會把光線向著四面八方反射，所以入射線雖然互相平行，由于各點的法線方向不一致，造成反射光線向不同的方向無規則地反射，這種反射稱之為" 漫反射" 或" 漫射"。

漫射光是指從光源發出的光進入樣品內部，經過多次反射、折射、散射及吸收后返回樣品表面的光，漫反射光測量可用來分析與樣品內部分子發生作用以后的光，攜帶有豐富的樣品結構和組織信息．與透射光相比，雖然透射光中也負載有樣品的結構和組織信息，但是透射光的強度受樣品厚度及透射過程光路的不規則性影響。因此，漫反射(diffuse reflectance) 測量在提取樣品組成和結構信息方面提供了一個直接可靠的分析手段。

積分球是漫反射測量中常用附件之一。入射光進入樣品后，其中部分漫反射光回到積分球內部，在積分球內經過多次漫反射后到達檢測器。 由于信號光從散射層面發出后，經過積分球的空間積分，因此可以克服漫反射測量中隨機因素的影響，提高數據穩定性和重復性。

卓立漢光的漫反射測量系統采用單色光搭配積分球，同時提供粉末樣品專用夾具。 系統搭配光源與探測器可覆蓋紫外到近紅外波段，系統采用單色光掃描測量漫反射率，各波長輸出具有單色性高與雜散光低的特點，相較于復色光以光纖光譜儀的漫反射測量有更高的可靠性。測量系統還可搭配偏振器件，提供波長與偏振相關的漫反射測量。

Omni-DR300 固體粉末漫反射率測量系統

本系統采用寬波段波長可調單色光源和積分球整合而成，測試光為垂直光路，樣品盛放裝置為小型抽屜式樣品盒，方便放置粉末類樣品，易于替換。

■ 光譜測量范圍：350-2500nm

■ 光譜分辨率：2nm以下

■ 光譜掃描步距：0.2-100nm可連續設置

■ 波長準確度：優于±0.2nm（紫外-可見區），優于±0.5nm（近紅外區）

■ 光度測量準確度：1%以內（紫外-可見區），2%以內（近紅外區）

■ 光度測量重復性：1%

■ 測試光軸與試樣夾角：不大于10°

■ 測試試樣尺寸(典型)：Ø10(D) *3(H)(mm)

Omni-DR600 平面材料漫反射率與透射率測量系統

本系統結構與Omni-DR300 相同，但系統測試光為由下至上8 度角聚焦光路，樣品盛放裝置為160x160mm 平臺，方便放置各類平面待測物，如各類功能性布料。同時，系統整合透過率測量探測器，可測量厚度為5mm 以下的各類透光材料，可將各類透光器件的漫反射率與透過率測量整合成一體。

■ 光譜測量范圍：350-2500nm

■ 光譜分辨率：2nm以下

■ 光譜掃描步距：0.2-100nm可連續設置

■ 波長準確度：優于±0.2nm（紫外-可見區），優于±0.5nm（近紅外區）

■ 光度測量準確度：1%以內（紫外-可見區），2%以內（近紅外區）

■ 光度測量重復性：1% (450nm-1800nm)

■ 測試試樣尺寸(典型)：直徑大于15mm，若同時測試透過率，則樣品厚度必須小于5mm

DR300-WS-PTFE漫反射標準白板

DR300-WS-PTFE 是一款由美國海洋光學生產的漫反射標準板, 采用PTFE 制成，其表面為朗伯表面。外殼材料為陽極氧化鋁，具有防水、穩定性好的特性，在深紫外應用下也沒問題。在250-1500nm 波段， 反射率大于98%，在250-2200nm 波段，反射率大于95%。反射面的直徑為32mm。反射材料封裝在一個小盒內，并有帶螺紋的蓋子。

DR300-WS-SL Spectralon標準反射白板

DR300-WS-SL 是Labsphere生產的一款標準漫反射白板，材料采用Spectralon。Spectralon 不易沾水，在溫度350 ° C 以下都能保持穩定，而且具有耐用性好，精確，可重復性好的特點。與PTFE 材料不同，DR300-WS-SL 被弄臟后仍然能通過清洗、打磨后恢復原有性能。

DR300-WS-CPT不銹鋼外殼標準白板

DR300-WS-CPT 與DR300-WSPTFE基本相同，由美國海洋光學生產，采用PTFE 制成，所不同的是外殼由不銹鋼制成。此外，DR300-WSCPT

的表面是一個輕微的凹面，以此保證反射探頭架放在上面時，與白板不直接接觸。

漫反射標準白板選型表：