透射、反射/ 吸收率是光學元件（如光學材料、濾光片、鍍膜等）與多種生活材料（玻璃、布料、汽車貼膜等）的重要光學特性指標，我公司ZLX-AS 系列 透射、反射/ 吸收光譜測量系統正是針對此應用需求，而設計的高集成度，自動化的測量系統，它能幫助研發人員或品管人員在實驗室輕易、快捷的實現透射率/ 反射率的光譜測試。

系統組成：光源系統+分光系統＋樣品檢測系統＋數據采集及處理系統＋軟件系統＋計算機系統

OmniAS系列透射、反射/吸收光譜測量系統

紫外可見分光光度計標準裝置
 

本裝置是為中國計量科學研究院研制的紫外可見分光光度標準系統。這是個單光束系統，樣品垂直放在該平行光束中，測量其透射比。該裝置主要由四部分組成：雙單色儀、光源室、樣品室、電控電測和軟件組成

■ 該裝置為測量國家標準分光光度計標準密度片研制,準確測量光譜透射比

■ 雙單色儀，750mm焦距雙單光柵，自動掃描

■ 雜散光小于：5×10-9

■ 大面積光柵（110mm×110mm），大NA，能量利用率高

■ 測量光譜范圍 ：200~850nm

■ 光度測量準確，不確定度大于：0.05%T

■ 波長準確度：0.05nm，重復性：0.005nm

■ 光路中使用非球面鏡，改善成像質量

■ 樣品臺夾持樣品可自動移入、移出光路

■ 光源室包括，紫外用氘燈、可見用溴鎢燈、波長校準用汞燈和調整光路用激光器，全自動切換

■ 光路中有雙孔徑線性檢查裝置，便于進行線性檢查

■ 光路中有Glan-thompson起偏和檢偏棱鏡，便于進行偏振檢測

■ 光路中有自動可調光闌，可改變光束直徑

■ 光路中有自動開關快門，便于高精度測量時，扣除暗信號

■ 譜儀控制軟件和濾光片輪控制軟件、輸出數據的采集和分析計算軟件、測量參數自動保存，并可直接打印

■ 兩種測量模式：波長掃描模式和定波長模式，可在高準確度和快速測量進行選擇

建筑玻璃透射、反射/吸收光譜測量系統
 

系統采用卓立漢光技術( 號：ZL .9 一種寬光譜透射、反射測量裝置）優化設計而成，滿足建筑玻璃的標準測試需求，同時也能夠應用于其它透明材料的透射、反射/ 吸收光譜測試需求。

■ 光譜測量范圍：300-2500nm

■ 光譜分辨率：5nm以下

■ 光譜掃描步距：0.1-10nm可連續設置

■ 波長準確度：優于±0.5nm（紫外-可見區），優于±1nm（近紅外區）

■ 光度測量準確度：1%以內（紫外-可見區），2%以內（近紅外區）

■ 光度測量重復性：0.5%（紫外-可見區），1%（近紅外區）

■ 測試光束平行度：不大于±5°

■ 測試光軸與試樣夾角：不大于10°

■ 測試試樣尺寸(最佳)：100(L)*100(W)*10(D)(mm)

眼部防護用品光譜和積分透射比測量系統

■ 該系統測量防護眼鏡、頭盔、防護面具等的光譜和積分透射比

■ 可測平光、小于+4m-1，大于-4m-1屈光度眼部防護用品

■ 測量光譜范圍 200~2200nm

■ 系統使用光譜透射比范圍：τ(λ)=0.1-0.9

■ 復合光源：氘燈、溴鎢燈自動切換

■ 透過率重復性：R<0.01

■ 透過率準確度：±2% （光學系統透過率>10%）

■ 透過率測量的系統不確定度： U<0.015（對Vis、UVA、UVB波段）U<0.02（對UVC、NIR波段）

■ 樣品臺及夾持器應能保證被測樣品的中心區域位于光軸中心，并沿z方向調節150mm，沿y方向調節150mm，

■ 圍繞θz方向調節角度90°，圍繞θy方向調節角度45°

■ 譜儀控制軟件和濾光片輪控制軟件、輸出數據的采集和分析計算軟件、測量參數自動保存，并可直接打印

光學鏡頭光譜透過率檢測系統

■ 該系統測量光學鏡頭的光譜透過率（光學鏡頭透過率>10%）

■ 可測鏡頭口徑：Ø8～Ø150mm（通過光闌變化選擇），最大長度600mm

■ 300mm焦距三光柵單色儀，自動掃描和光柵切換

■ 光譜范圍：380～2500nm

■ 自動控制電移臺，調節被測光學系統沿光軸移動到合適位置

■ 溴鎢燈光源，帶斬波器和高穩定穩流電源

■ 透過率準確度：±2% （光學鏡頭透過率>10%）

■ 譜儀控制軟件和濾光片輪控制軟件、輸出數據的采集和分析計算軟件、測量參數自動保存，并可直接打印

時間分辨紅外吸收光譜測量系統
 

■ 紅外吸收光譜測量范圍：2-10μm(MCT)/1-5.5μm(InSb)

■ 時間分辨率：<50ns(MCT)/<25ns(InSb)

■ 碳化硅紅外輻射源，波長范圍1-16μm

■ 鍍金反射鏡，增加紅外光收集效率

■ 紅外輻射源既可做為加熱源，又可做為光譜透射測量的輻射源

■ 既可測量通過樣品的連續光譜透射(吸收)，也可測量時間分辨紅外光譜

光譜角分布測量系統
 

■ 全波段光譜透過率測量，透射角分布測量

■ 全波段光譜反射率測量，反射角分布測量

■ 波長范圍:200nm-IR

■ 不同的光譜范圍可能需要不同的光學光路設計結構

■ 雙層平立旋轉，重復定位精度0.005°，分辨率0.00125°

■ 樣品置于上層旋臺，探測器置于下層旋臺，樣品和探測器可以任意角度工作

■ 臺面上放置一個五維調整鏡座，可將樣品調整到旋臺的旋轉中心并且垂直于臺面

■ 功能擴展：測量光柵衍射效率