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菲希爾測試儀器(中國)有限公司

經營模式：其他

商鋪產品：43條

所在地區：福建廈門市

聯系人：葉先生（銷售）

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中子光學器件

詳細摘要：特別受益于局部通量增加的方法中是中子散射法，用于例如高壓電池中檢查小樣品，例如層析成像中需要小源，或例如中子活化分析中需要高空間分辨率
產品型號：所在地：更新時間：2021-11-17 在線留言
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ

詳細摘要：特點同時測量從Al（13）到U（92）的多達24個元素
產品型號：所在地：更新時間：2021-11-17 在線留言
X射線窗口

詳細摘要：對于X射線技術和X射線分析而言，在許多情況下需要透光窗口例如，這些窗口可以作為X射線管和探測器的透明氣體屏障
產品型號：所在地：更新時間：2021-11-17 在線留言
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD

詳細摘要：特點通用X射線熒光分析儀，用于根據ISO3497和ASTMB568標準自動測量超薄鍍層（0.05μm）百萬分之一以下的精細材料分析使用Fischer公司超大有效...
產品型號：所在地：更新時間：2021-11-17 在線留言
FISCHERSCOPE X-RAY PCB系列

詳細摘要：印制電路板測量專用系列當今的印刷電路板具有大量的鍍層觸點
產品型號：所在地：更新時間：2021-11-17 在線留言
X射線光學器件

詳細摘要： X射線毛細管光學器件用于引導和塑形X射線
產品型號：所在地：更新時間：2021-11-17 在線留言
FISCHERSCOPE X-RAY XDAL

詳細摘要：特點采用DINISO3497和ASTMB568標準，用于自動測量達到0.05μm的鍍層和用于ppm級含量的材料分析的通用X射線熒光光譜儀3種不同的探測器可選（S...
產品型號：所在地：更新時間：2021-11-17 在線留言
FISCHERSCOPE X-RAY XDL和XDLM

詳細摘要：特點能量色散X射線熒光光譜儀，自動進行材料自動分析和鍍層厚度的無損測量，采用ISO3497和ASTMB568標準
產品型號：所在地：更新時間：2021-11-17 在線留言
FISCHERSCOPE X-RAY XUL 和 XULM

詳細摘要：特點根據DINISO3497和ASTMB568，用X射線熒光法分析電鍍液和測量鍍層厚度XULM的最小測量點約0.1mm
產品型號：所在地：更新時間：2021-11-17 在線留言
FISCHERSCOPE X-RAY XAN 500

詳細摘要：特點通用手持式X射線熒光分析儀，即使材料組合困難復雜的情況下，也可以進行精確的鍍層厚度測量和材料分析
產品型號：所在地：更新時間：2021-11-17 在線留言
FISCHERSCOPE X-RAY XAN

詳細摘要：特點根據DINISO3497和ASTMB568標準進行金屬和貴金屬分析，鍍層厚度測量和RoHS篩查的通用X射線熒光光譜儀半導體檢測器（PIN和SDD）確保出色的...
產品型號：所在地：更新時間：2021-11-17 在線留言
GOLDSCOPE SD

詳細摘要：特點無損、快速、精確的金測試寬敞的測量室緊湊而堅固的設計，適合長期使用無需樣品制備
產品型號：所在地：更新時間：2021-11-17 在線留言