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上海譽至電子科技有限公司
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該儀器適用于光化學、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、大規模集成電路光刻等領域的紫外輻照度測量工作。
| 該儀器適用于光化學、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、大規模集成電路光刻等領域的紫外輻照度測量工作。 主要性能指標： * 波長范圍及峰值波長： （1）UV－365探頭:λ：（320～400）nm；λP＝365nm （2）UV－420探頭:λ：（375～475）nm；λP＝420nm * 輻照度測量范圍：（0.1～199.9×103）μW/cm2 * 紫外帶外區雜光： UV365：小于0.02％ UV420：小于0.02％ * 準確度：±10％ * 角度響應特性：符合國家二級光照度計標準 * 響應時間：1秒 * 使用環境：溫度（0～40）℃；濕度＜85％RH * 尺寸和重量：180mm×80mm×36mm；0.2kg * 電源：6F22型9V積層電池一只 |
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