HAST可靠性試驗機，高加速壽命試驗箱用途：
   高加速老化試驗箱是為評估非氣密性固態器件在潮濕及電偏壓的環境中的可靠性。這是一種高度加速試驗，在非冷凝條件下利用溫度和濕度加速水汽通過外部保護材料（封裝材料或密封件）或沿著外部保護材料和金屬導體之間的界面滲透。該試驗依據JEDEC 22標準，此測試用于識別封裝內部的故障機制，具有破壞性。
   HAST高加速老化試驗箱主要用于對電工、電子產品、半導體、IC芯片、固態存儲器、DRAM、閃存卡及模塊、元器件、零部件、金屬材料、塑料晶體管外形封裝等產品測試。
HAST可靠性試驗機，高加速壽命試驗箱技術性能：

溫度范圍: 105℃～147℃( 蒸氣溫度 )

濕度范圍: 75~100 % （蒸氣濕度）
濕度控制穩定度：±3%RH

使用壓力: 1.2~2.89kg(含1atm)

時間范圍: 0Hr～999 Hr

加壓時間: 0.00 Kg ～1.04 Kg/cm2約45 分
溫度波動均勻度: ±2℃

溫度顯示精度：0.1℃

壓力波動均勻度 : ±0.1Kg

濕度分布均度：±3%RH
內尺寸:Φ380mmxL500mm，大于50L
內桶材質: SUS# 316不銹鋼板材質
外箱材質: 冷軋板噴塑