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測量范圍 | -75、300 | 測量精度 | 0.1 |
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產地 | 國產 | 供貨周期 | 19天 |
外形尺寸 | 550mm | 用途 | 半導體可靠性測試 |
重量 | 110kg |
半導體高低溫試驗箱,半 導體烘箱特點及用途:
高低溫試驗箱適用于IC,PCB板、晶圓,可控硅,半導體,電阻、電容、電工、電子產品、家用電器、汽摩配件、化工涂料、各種電子元器件及其他相關產品零部件在高溫、低溫環境下貯存、運輸、使用時的適應性試驗,考核其各項性能指標。可單獨做高溫、低溫;也可用于高溫、低溫的循環試驗。
半導體高低溫試驗箱技術參數:
1、溫度范圍: -75、-40℃~150℃;
2、溫度波動度:≤±0.5℃;
3、溫度均勻度:≤±2℃ ;
4、內腔尺寸(W×H×D):300×300×225 (mm);
5、外形尺寸(W×H×D):460×910×785 (mm);
6、電源: 220V 50Hz 2.5KW。
半導體高低溫試驗箱冷凍系統
1、壓縮機:*高效率低噪聲全封閉型冷凍壓縮機;
2、制冷方式:單壓縮機制冷系統;
3、冷卻方式 :風冷;
4、制冷劑:高效環保制冷劑。
半導體高低溫試驗箱,半 導體烘箱概述:
充氮潔凈烘箱是一種提供高溫凈化環境的特殊潔凈烘干設備。烘箱整機為不銹鋼結構,全部采用無塵材料,箱內持續充氮,使烘箱工作室內處于潔凈狀態。工作室內溫度由溫控儀自動控制,并有自動恒溫及時間控制裝置,并附設有超溫自動停電及報警電路,控制可靠,使用安全。用于半導體、晶圓、芯片、電子液晶顯示、LCD、CMOS、IC、醫藥、實驗室等生產及科研部門。
GB/T11158-高溫試驗箱技術條件
GB2423.2-試驗B
半 導體烘箱技術參數:
溫度范圍: RT+10~200、300℃;
溫度偏差:≤±2.0℃;
升溫速度:≥2℃/min;
潔凈等級:千級以上
工作尺寸:自定義
計時功能:具有獨立的計時器,計時復位開關,計時報警器
溫度測量傳感器:Pt100 鉑電阻;
控制儀表:富士溫度控制器,PID調節,控制精度0.1℃;
超溫保護儀表:獨立于工作室主控制的超溫保護系統,保證試驗品的安全。
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