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西安長禾半導體技術有限公司


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MOSFET結電容參數測試服務

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參  考  價:99
具體成交價以合同協議為準
  • 產品型號

    長禾CNAS

  • 品牌

    其他品牌

  • 廠商性質

    生產商

  • 所在地

    西安市

規格

1 99元 999件可售

聯系方式:白曉輝查看聯系方式

更新時間:2025-03-13 10:33:00瀏覽次數:13次

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經營模式:生產廠家

商鋪產品:23條

所在地區:陜西西安市

聯系人:白曉輝 (銷售)

產品簡介
加工定制    

MOSFET結電容參數測試服務
功率器件參數驗證與二次篩選測試:保障器件性能穩定,助力客戶優化供應鏈質量控制。
車規級元器件檢測與認證:針對新能源汽車領域,提供符合嚴苛車規標準的功率器件篩選與可靠性驗證,助力行業客戶突破核心技術瓶頸。
環境與老化實驗:模擬特殊環境下器件工作狀態,確保產品在復雜工況中長期可靠運行。
失效分析及可靠性評估:快速精準定位元器件失效根因,為產品改進和技術迭代提供有力支撐。

詳細介紹

MOSFET結電容參數測試服務MOSFET結電容參數測試服務-第三方檢測中心

分立器件靜態參數測試(DC

執行標準:MIL-STD-750,IEC60747、JB/T7626-2013、

GB/T 29332-2012、GJB128B-2021

試驗對象:DIODEBJT、SCR、MOSFET、IGBT、SiC器件等分立器件;

檢測能力:檢測電壓:2000V 檢測電流:200A

試驗參數:

漏電參數:IR、ICBO、ICEO、IDSS、IDOFFIDRM、 IRRM、ICES、IGESF、IGESR、IEBO、IGSSF IGSSR

擊穿參數:BVCEOBVCES、BVDSS、BVCBOVDRM、 VRRM、BVR、BVZBVEBO、BVGSS;

導通參數:VCESAT、VBESAT、VBEON、VFVGSTH、VGETH、VTM;

關斷參數:VGSOFF

觸發參數:IGT、VGT

保持參數:IH、IH+、IH-

鎖定參數:ILIL+、IL-

混合參數:RDSON、GFS

I-V曲線掃描

ID vs.VDS at range of VGS

ID vs.VGS at fixed VDS

IS vs.VSD

RDS vs.VGS at fixed ID

RDS vs.ID at several VGS

IDSS vs.VDS

HFE vs.IC

BVCEO,S,R,V vs.IC

BVEBO vs.IE

BVCBO vs.IC

VCESAT vs.IC

VBESAT vs.IC

VBEON vs.IC use VBE test

VCESAT vs.IB at a range of ICVF vs. IF

功率模塊靜態參數測試(DC

執行標準:MIL-STD-750,IEC60747、JB/T7626-2013

GB/T 29332-2012;

試驗對象:DIODE、IGBT、MOSFET、SCR、整流橋等功率;

試驗能力:檢測 電壓:7000V,檢測 電流:5000A

試驗參數:

漏電參數:IRICBO、ICEOIDSS、IDOFF、IDRM、 IRRM、ICES、IGESFIGESRIEBO、IGSSF IGSSR;

擊穿參數:BVCEO、BVCESBVDSS、BVCBO、VDRM VRRM、BVR、BVZ、BVEBOBVGSS

導通參數:VCESATVBESAT、VBEONVF、VGSTH、VGETH、VTM

關斷參數:VGSOFF

觸發參數:IGTVGT

保持參數:IHIH+、IH-

鎖定參數:IL、IL+IL-

混合參數:RDSONGFS

開關特性測試(Switch

執行標準:MIL-STD-750,IEC60747、JB/T7626-2013、

GB/T 29332-2012;

試驗對象:MOSFET、IGBT、及SiC器件等分立器件及模塊;

試驗能力:檢測 電壓:4500V 檢測 電流:5000A

試驗參數:開通/關斷時間ton/toff、上升/下降時間tr/tf、開通/關斷延遲時間td(on)/td(off)、開通/關斷損耗Eon/Eoff、電流尖峰Ic-peak max、電壓尖峰Vce-peak max、電壓變化率dv/dt、電流變化率di/dt

反向恢復測試(Qrr

執行標準:MIL-STD-750,IEC60747、JB/T7626-2013

GB/T 29332-2012;

試驗對象:DIODE、MOSFETIGBT、及SiC器件等分立器件及模塊;

試驗能力:檢測 電壓:4500V 檢測 電流:5000A

試驗參數:反向恢復電荷Qrr、反向恢復電流Irm、反向恢復時間Trr、反向恢復電流變化率diF/dt、反向恢復損耗Erec;

柵極電荷(Qg

執行標準:MIL-STD-750,IEC60747、JB/T7626-2013、

GB/T 29332-2012

試驗對象:MOSFET、IGBT、及SiC器件等分立器件及模塊;;

試驗能力:檢測 電壓:4500V 檢測 電流:5000A

試驗參數:柵極電荷Qg、漏極電荷Qgs、源極電荷Qgd

短路耐量(SCSOA

執行標準:MIL-STD-750,IEC60747、JB/T7626-2013

GB/T 29332-2012;

試驗對象:DIODE、MOSFETIGBT、及SiC器件等分立器件及IGBT模塊器件;

試驗能力:檢測 電壓:4500V 檢測 電流:10000A

試驗參數:短路電流Isc、短路時間Tsc、短路能量Esc;

結電容(Cg    

執行標準:MIL-STD-750,IEC60747、JB/T7626-2013、

GB/T 29332-2012

試驗對象:MOSFETIGBT、及SiC器件等分立器件及模塊;

試驗能力:頻率:0.1-1MHz、檢測 電壓:1500V

試驗參數:輸入電容Ciss、輸出電容Coss、反向傳輸電容Cres;

C-V曲線掃描      

輸入電容Ciss-V

輸出電容Coss-V;

反向傳輸電容Cres-V;

柵極電阻(Rg

執行標準:MIL-STD-750IEC60747、JB/T7626-2013、

GB/T 29332-2012;

試驗對象:DIODE、MOSFETIGBT、及SiC器件等分立器件及IGBT模塊器件;

試驗能力:檢測 電壓:1500V;

試驗參數:柵極等效電阻Rg

正向浪涌電流測試    

執行標準:MIL-STD-750,IEC60747,客戶自定義;

試驗對象:DIODESi/SiC)、整流橋、SCR、IGBT

試驗能力:檢測 電流:10000A,10ms/8.3ms正弦半波,100us/1ms/10ms方波。

試驗參數:浪涌電流IFSM/ITSM、i2t

雷擊浪涌      8/20us,10/1000us

雪崩耐量測試(UIS

執行標準:MIL-STD-750,IEC60747,客戶自定義;

試驗對象:MOSFET、IGBT、DIODE,第三代半導體器件等單管器件;

試驗能力:檢測 電壓:4500V,檢測 電流:200A

試驗參數:雪崩能量EAS

介電性測試  

執行標準:GB/T 42125.10-2022IEC 60243、GB 4793.1-2007;

試驗對象:SiSiC·MOSFET;

試驗能力:檢測 電壓:4500V,檢測 電流:200A

高溫反偏試驗(HTRB  

執行標準:GJB128MIL-STD-750、JESD22-A108、EIAJED-4701100AEC-Q101, 。

試驗對象:DIODE、BJTSCRMOSFET、IGBT、SiC器件等分立器件及IGBT模塊;

試驗能力:溫度  150℃;電壓  5000V;

高溫柵偏試驗(HTGB  

執行標準:GJB128MIL-STD-750、JESD22-A108、

EIAJ ED-4701100 、AEC-Q101、 。

試驗對象:MOSFET、IGBT、SiC器件等分立器件及IGBT模塊;

試驗能力:溫度  150℃;電壓  100V

高溫高濕反偏試驗(H3TRB

執行標準:GJB128、MIL-STD-750JESD22-A108、

EIAJ ED-4701100 、AEC-Q101、 。

試驗對象:DIODE、BJT、SCRMOSFETIGBT、SiC器件等分立器件及IGBT模塊;

試驗能力:溫度85℃,濕度范圍:25%~95%,電壓  4500V

功率老煉測試      

試驗對象:IGBT、TVS、壓敏電阻VDR

試驗能力:檢測 電壓:4500V,檢測 電流:200A

間歇壽命試驗(IOL

執行標準:GJB128、MIL-STD-750、 ;

試驗對象:DIODE、BJT、MOSFET、IGBTSiC器件等分立器件;

檢測能力:ΔTj100℃ 電壓 60V,電流 50A。

功率循環試驗(PC

執行標準:GJB128MIL-STD-750、 ;

試驗對象:IGBT模塊;

檢測能力:ΔTj=100℃,電壓 30V,電流 1800A;

熱阻測試(Riath    

執行標準:JESD51-1、JESD51-14、JESD24-3、JESD24-4JESD24-6;

試驗對象:各類二極管;

試驗能力:瞬態熱阻、穩態熱阻

失效分析      X-ray    

◆ 人機工程學設計

◆ 編程CNC檢測及選配旋轉工裝

◆ 可實時追蹤、目標點定位

◆ 高分辨率FPD獲高質量圖像

◆ 配置超大載物臺及桌面檢測區域

X射線源:

輸出功率:8W

光管類型:封閉式

管電壓:90kV

焦點尺寸:5μm

環境老煉      

高溫存儲試驗(HTSL    

執行標準:MIL-STD-750,GB/T 2423.2-2008、GJB548、 ;

試驗對象:DIODE、BJT、SCRMOSFET、IGBTSiC器件等分立器件、IGBT模塊及其他電子產品;

試驗能力:溫度  220℃;

低溫存儲試驗(LTSL    

執行標準:GJB548、GJB128、MIL-STD-750JESD22-A108、EIAJ ED-4701100 、AEC-Q101、 ;

試驗對象:DIODE、BJTSCR、MOSFET、IGBT、SiC器件等分立器件、IGBT模塊及其他電子產品;

試驗能力:溫度   -70℃。

高低溫循環試驗(TC    

執行標準:GJB548、GJB128MIL-STD-750JESD22-A108、EIAJ ED-4701100 、AEC-Q101、 ;

試驗對象:DIODE、BJT、SCR、MOSFET、IGBT、SiC器件等分立器件、IGBT模塊及其他電子產品;

試驗能力:溫度范圍:-40~175℃。

溫度沖擊試驗      

執行標準:GJB548、GJB 150-86、GB 2423MIL-STD-810HIEC60068-2-14;

試驗對象:DIODE、BJTSCRMOSFETIGBT、SiC器件等分立器件、IGBT模塊及其他電子產品;

試驗能力:溫度范圍:-70~220℃。

高溫蒸煮試驗(PCT      

執行標準:GB/T 4937.4-2012?JESD22-A110D-2010?

IPC/JEDECJ-STD-020D.1-2008?

試驗對象:DIODEBJT、SCR、MOSFET、IGBT、SiC器件等分立器件、IGBT模塊及其他電子產品;

試驗能力:?溫度范圍?105℃142.9℃之間;濕度范圍?75%100RH。

壓力范圍?0.02MPa0.186MPa。

可焊性試驗  

執行標準:MIL-STD-202G、MIL-STD-883G、GB2423、IEC60068;

試驗對象:DIODE、BJT、SCR、MOSFETIGBT、SiC器件等分立器件、IGBT模塊及其他電子產品;

振動試驗      

執行標準:GJB 150.25-86、GB-T 4857.23-2003、GBT4857.10-2005;

試驗對象:DIODE、BJTSCR、MOSFET、IGBTSiC器件等分立器件、IGBT模塊及其他電子產品;

試驗方法:模擬產品在運輸、安裝及使用環境下所遭遇到的各種振動環境影響,主要用于評定元器件、零部件及整機在預期的運輸及使用環境中的抵抗能力,以了解產品的耐振壽命和性能指標的穩定性。

鹽霧試驗      

執行標準:GB/T2423.172008、GB/T2423.182000GB593886;

試驗對象:DIODE、BJT、SCR、MOSFET、IGBT、SiC器件等分立器件、IGBT模塊及其他電子產品;

試驗方法:通過人工模擬鹽霧環境條件來考核產品或金屬材料耐腐蝕性能的環境試驗。一般用于對材料(表面鍍層)或表面處理工藝進行評價、篩選、對比,確定產品中潛在問題的區域和部位,發現質量控制的不足,尋找設計缺陷等。




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