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QUANTUM量子科學儀器貿易(北京)有限公司
聚合物薄膜厚度方向熱電性能評價系統-ZEM-d主要測量聚合物薄膜厚度方向上的塞貝克系數和電阻率,可以測量的樣品薄為10μm。
日本ADVANCE RIKO公司塞貝克系數與電阻測量系統ZEM系列銷售量超過300臺,廣獲科研及工業用戶的贊譽,成為熱電材料領域應用廣泛的測試設備。2019年,在此前的成功基礎上,ADVANCE RIKO公司推出了專門用于評價聚合物厚度方向上熱電性能的全新設備ZEM-d。
與之前ZEM系列產品(ZEM-3/ZEM-5)不同,新型號ZEM-d主要測量聚合物薄膜厚度方向上的塞貝克系數和電阻率,可以測量的樣品薄為10μm。此外,ZEM-d與采用激光閃光法測量薄膜的熱擴散率/導熱系數測量方向一致,其測量結果可廣泛應用于薄膜熱電材料的性能評價。
ZEM-d測量原理
現存測試方法 | ZEM-d(厚度方向測量) |
電阻率測量原理
塞貝克系數測量原理
ZEM-d技術參數
測量參數 塞貝克系數,電阻率
溫度范圍 可達200℃(樣品表面)
樣品尺寸 截面:Φ20mm(Max),長度:0.01-20mm
測量氛圍 空氣或惰性氣體
軟件界面
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