QUANTUM量子科學儀器貿易（北京）有限公司
詳細摘要： Excillum--液態金屬靶X射線源能夠承受更高功率電子束的轟擊，使得這項新技術能夠帶來10倍于普通固體陽極X射線光源所發射的X射線通量（在相同焦斑面積上），...
產品型號：MetalJet所在地：國外更新時間：2023-11-29 在線留言
詳細摘要： 美國easyXAFS公司推出的臺式X射線吸收精細結構譜儀（XAFS/XES），采用*的X射線單色器設計，無需同步輻射光源，在常規實驗室環境中實現X射線吸收精細結...
產品型號：XAFS/XES所在地：北京市更新時間：2023-11-27 在線留言
詳細摘要： 激光閃光法熱常數測量系統-TC-1200RH系統采用符合JIS/ISO標準的激光閃光法測定材料的三個重要熱物理常數：熱導率（導熱系數）、熱擴散系數及比熱容。
產品型號：TC-1200RH所在地：北京市更新時間：2023-11-16 在線留言
詳細摘要： 聚合物薄膜厚度方向熱電性能評價系統-ZEM-d主要測量聚合物薄膜厚度方向上的塞貝克系數和電阻率，可以測量的樣品薄為10μm。
產品型號：ZEM-d所在地：北京市更新時間：2023-11-15 在線留言
詳細摘要： 低溫雙軸旋轉模塊-atto3DR通過水平固定軸的旋轉，控制樣品表面與外界磁場的傾角（+/- 90°）；而沿面內固定軸的旋轉提供了另外+/- 90...
產品型號：atto3DR所在地：北京市更新時間：2023-11-15 在線留言
詳細摘要： 石墨烯/二維材料電學性質非接觸快速測量系統-ONYX是一款針對石墨烯、半導體薄膜和其他二維材料大面積太赫茲無損表征的測量設備。
產品型號：ONYX所在地：北京市更新時間：2023-11-13 在線留言
詳細摘要： 日本Advance Riko公司推出的納米薄膜熱導率測試系統-TCN-2ω是使用2ω方法測量納米薄膜厚度方向熱導率的商用系統。與其他方法相比，樣品制備和測量極為...
產品型號：TCN-2ω所在地：北京市更新時間：2023-11-12 在線留言
詳細摘要： TEGeta 多功能熱電材料測量系統是德國 PANCO 公司研制的一款高精度多功能的熱電性能測量設備。它的工作原理是通過熱端和冷端在材料中形成溫度梯度，然后高精...
產品型號：TEGeta所在地：北京市更新時間：2023-11-10 在線留言您感興趣的產品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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