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北京合能陽光新能源技術(shù)有限公司

  • HS-PSTT原生多晶型號測試儀

    HS-PSTT原生多晶及硅芯型號測試儀是一款半導(dǎo)體材料型號測試儀器，具有大量程測試范圍的特點(diǎn)，尤其適用于西門子法原生硅料生產(chǎn)企業(yè)的高阻硅料（含硅芯、檢磷棒、檢硼...
    型號： 所在地：北京市 參考價(jià)： 面議 更新時(shí)間：2018/3/27 19:48:21 對比

  • 無接觸體電阻率型號測試儀（TRM-100）

    HS-TRM-100型無接觸式電阻率型號測試儀是基于渦流（Eddy Current）測試技術(shù)，能夠?qū)枇稀⒐璋簟⒐桢V及硅片進(jìn)行無接觸、無損傷的體電阻率測試。
    型號： 所在地：北京市 參考價(jià)： 面議 更新時(shí)間：2018/1/22 5:40:50 對比

  • 硅料綜合測試儀

    本儀器是運(yùn)用四探針測量原理的多功能綜合測試裝置，它可以測量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的徑向和軸向電阻率，適用于半導(dǎo)體及太陽能行業(yè)的篩選。
    型號： 所在地：北京市 參考價(jià)： 面議 更新時(shí)間：2018/1/18 8:10:13 對比

  • HS-POSRT大量程電阻率測試儀

    HS‐POSRT原生多晶電阻率測試儀是一款電阻率測試儀器，具有電阻率大量程及超大量程測量的特點(diǎn)，實(shí)現(xiàn)了電阻率從0.0001歐姆.厘米到幾萬歐姆.厘米（可擴(kuò)展）的...
    型號： 所在地：北京市 參考價(jià)： 面議 更新時(shí)間：2017/12/30 20:38:21 對比

  • 金屬四探頭電阻率方阻測試儀

    用來測量半導(dǎo)體材料(主要是硅單晶、鍺單晶、硅片)電阻率，以及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電薄膜、導(dǎo)電橡膠方塊電阻的測量儀器。
    型號： 所在地：北京市 參考價(jià)： 面議 更新時(shí)間：2017/12/29 22:40:56 對比

  • PET標(biāo)準(zhǔn)太陽能電池

    PET標(biāo)準(zhǔn)太陽能電池于校準(zhǔn)太陽模擬器的輻照。也可以使用(配套設(shè)備)來衡量太陽模擬器時(shí)間穩(wěn)定性和/光束的非均勻性。另外，還可以用來IV測量系統(tǒng)光電流強(qiáng)度來校準(zhǔn)測量...
    型號： 所在地：北京市 參考價(jià)： 面議 更新時(shí)間：2017/12/20 7:17:32 對比

  • 無接觸硅片厚度TTV電阻率綜合測試系統(tǒng)（PV-1000）

    PV-1000系列無接觸硅片厚度TTV電阻率綜合測試系統(tǒng)為太陽能/光伏硅片及其他材料提供快速、多通道的厚度、（總厚度變化）TTV、翹曲及無接觸電阻率測量功能。并...
    型號： 所在地：北京市 參考價(jià)： 面議 更新時(shí)間：2017/12/16 10:14:03 對比

  • 金屬四探頭電阻率方阻測試儀 - HS-MPRT-5

    本儀器用來測量硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器.本儀器按照半導(dǎo)體材料電阻率的及國家標(biāo)準(zhǔn)測試方法有關(guān)規(guī)定設(shè)計(jì)。
    型號： 所在地：北京市 參考價(jià)： 面議 更新時(shí)間：2017/12/12 22:27:03 對比

  • 硅片測厚儀（HS-WTT）

    適用于量程范圍內(nèi)的硅片等各種材料的厚度精確測量
    型號： 所在地：北京市 參考價(jià)： 面議 更新時(shí)間：2017/12/5 8:42:52 對比

  • 無接厚度電阻率測試儀器

    NCS-R80 無接觸厚度電阻率測試儀是一款用于硅片的厚度、電阻率測量的專業(yè)儀器，該儀器適用于Si，GaAs，InP，Ge等幾乎所有的材料，所有的設(shè)計(jì)都符合AS...
    型號： 所在地：北京市 參考價(jià)： 面議 更新時(shí)間：2017/12/3 2:26:27 對比

  • NCS-R90無接觸方阻測試儀

    NCS-R90 無接觸方塊電阻測試系統(tǒng)是一款廣泛應(yīng)用于太陽能電池片制造過程中對表面方塊電阻進(jìn)行無損測量的專業(yè)儀器。該儀器適用于Si，GaAs，InP，Ge等幾乎...
    型號： 所在地：北京市 參考價(jià)： 面議 更新時(shí)間：2015/6/29 8:52:11 對比

  • PV-2000無接觸硅片自動(dòng)測試系統(tǒng)

    PV-2000系列無接觸硅片厚度TTV電阻率綜合測試系統(tǒng)為太陽能/光伏硅片及其他材料提供快速、多通道的厚度、（總厚度變化）TTV、翹曲及無接觸電阻率測量功能。并...
    型號： 所在地：北京市 參考價(jià)： 面議 更新時(shí)間：2014/12/4 5:13:51 對比
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