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卡爾·蔡司股份公司
蔡司高速掃描電子顯微鏡MultiSEM
蔡司開啟電子顯微鏡速度的革新時代
借助 MultiSEM 顯微鏡,您可以充分運用 91 條并行電子束的采集速度。現如今,您能夠以納米分辨率對厘米級樣品成像。這款出色的掃描電子顯微鏡(SEM)專為 7 x 24 小時的連續、可靠運行而設計。只需簡單設置高性能數據采集流程,MultiSEM 便能夠獨立地自動完成高襯度圖像采集。
使用成熟的 ZEN 成像軟件控制 MultiSEM:您可以直觀靈活地管理這款高性能掃描電子顯微鏡的所有功能選項。
以速度和納米分辨率采集圖像
91 條電子束同時工作,擁有出色的成像速度。
在幾分鐘內對1 mm2的區域成像,分辨率高達 4 nm。
借助經優化的二次電子探測器,以低信噪比采集高襯度圖像。
大型樣品的采集和成像
MultiSEM 配備有一個可容納 10 cm x 10 cm 大小樣品的樣品夾。
對整個樣品成像并發現所有細節,助力于科研。
自動采集方案可實現大面積成像 - 您將獲得精細的納米圖像,且不丟失可見信息。
ZEN 成像軟件
使用成熟的ZEN軟件簡便直觀地操控 MultiSEM,該軟件被應用于所有蔡司成像系統
智能化自動調節程序能夠幫助您以高分辨率和高襯度捕獲圖像
根據樣品的實際情況,快速輕松地創建復雜的自動采集流程
MultiSEM的ZEN 軟件可高速進行連續并行成像
開放的API軟件接口可提供靈活快速的應用開發
對大體積樣品連續切片斷層掃描的數據獲取
使用ATUMtome 自動切割樹脂包埋生物組織。 內搜集多達1000個連續切片。
將切片用膠帶固定在硅晶片上并用蔡司的光學顯微鏡成像。使用蔡司的 ZEN 成像軟件以及 Shuttle & Find 功能組件對整體成像。再將硅晶片移至 MultiSEM 電子顯微鏡下,對樣品進行整體預覽并利用 ZEN 軟件用戶界面規劃整個實驗。
用圖形化的控制中心設置整個實驗。高效的自動切片檢測可以識別和標注感興趣區域,節省大量時間。
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