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M-2000DI光譜型橢偏儀（Spectroscopic Ellipsometer）

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產(chǎn)品簡介

儀器廠商：美國J.A.Woollam公司型號(hào)：M-2000DI到貨日期：2008.4.19技術(shù)指標(biāo)：●波長范圍：190~1700nm●光譜分辨率：1.6nm（波長小于1000nm）

詳細(xì)介紹

儀器廠商：美國J.A.Woollam公司
型號(hào)：M-2000DI
到貨日期：2008.4.19

技術(shù)指標(biāo)：

● 波長范圍：190~1700 nm
● 光譜分辨率：1.6 nm（波長小于1000 nm）；3.7 nm（波長大于1000 nm）
● 自動(dòng)入射角范圍：45~900
● 自動(dòng)樣品臺(tái)：150 mm*150 mm
● 旋轉(zhuǎn)補(bǔ)償器，Ψ可測范圍0~900，Δ可測范圍0~3600

主要用途：

用于單層或多層透明或半透明薄膜的厚度和光學(xué)常數(shù)的測定，廣泛應(yīng)用于物理、化學(xué)、材料、生物、高分子、光學(xué)鍍膜、太陽能電池、平板顯示等領(lǐng)域的研究。

關(guān)鍵詞：補(bǔ)償器電池

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