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北京培科創新技術有限公司
簡介JED-2300TAnalysisStation是以圖像觀察和分析為基本理念的TEM/EDS集成系統
簡介
JED-2300T AnalysisStation是以“圖像觀察和分析”為基本理念的TEM/EDS集成系統。在分析數據過程中,自動采集電鏡主機的倍率、加速電壓等參數,進行數據管理。
產品特點
·AnalysisStation
JED-2300T AnalysisStation是以“圖像觀察和分析”為基本理念的TEM/EDS集成系統。在分析數據過程中,自動采集電鏡主機的倍率、加速電壓等參數,進行數據管理。
·硅漂移檢測器(以下簡稱SDD)的檢測面積有30mm2、60mm2和100mm2三種。檢測面積越大,檢測靈敏度越高。JEM-ARM200F(HRP)配合使用DRY SD100GV檢測器(檢測面積為100mm2),可同時實現大受光面積和高分辨率, 可以清楚地識別B、C、N、O等輕元素。
·快速元素面分析
·DRYSD100GV檢測器的靈敏度,測試Au催化劑顆粒只需一分鐘。
·實現原子分辨率的面分析
·Sr和Ti的原子列被清楚地分離開來。
·play Back(回放)功能
·用JEOL制造的EDS采集的元素面分布圖,不僅保存了每一幀中各個像素點的譜圖,還對每一幀中電子束形成的圖像進行了存儲。利用play back功能,可以進行多角度的分析如觀測譜圖等隨時間的變化等。測試后數據能夠回放,可以觀察到樣品按時間順序發生的變化,這是至今為止無法實現的。此外,利用play back功能還可以截取任意的畫面。
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