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北京培科創新技術有限公司
以節能環保、減排低碳為理念開發的JEM-F200場發射透射電子顯微鏡,不僅提高了空間分辨率和分析性能,還采用了新的操作系統可滿足多種使用途徑,易用性強,外觀設計精煉,能為不同層次的用戶提供新奇的操作體驗
·以節能環保、減排低碳為理念開發的JEM-F200場發射透射電子顯微鏡,不僅提高了空間分辨率和分析性能,還采用了新的操作系統可滿足多種使用途徑,易用性強,外觀設計精煉,能為不同層次的用戶提供新奇的操作體驗。
·外觀設計精煉
·精煉的外型,全新的視覺感受。
為分析型電鏡全新設計的GUI,使操作更加直觀方便。
JEOL長年積累的豐富經驗在設計上得到了充分的體現,與舊機型相比,電鏡的機械性和電氣穩定性都得到了很大的提高。
·四級聚光鏡系統
·現在的電子顯微鏡需要支持范圍廣泛的成像技術--- 從明場/暗場的TEM成像到使用各種檢測器的STEM技術。 該設備采用新型四級聚光鏡照射光學系統-“Quad-Lens condenser system”,通過分別控制電子束強度和匯聚角,能滿足各種研究的需求。
·掃描系統
·JEM-F200可以實現大視野的STEM-EELS分析,該設備在常規的照明系統的電子束掃描功能之上,增加了新的掃描系統-“Advanced Scan System” 即成像系統的電子束掃描功能(選配)。
·皮米樣品臺驅動
·JEM-F200 采用能以皮米級步長移動樣品臺的Pico stage drive(不用壓電驅動),能在寬動態范圍移動視野-從樣品的整個柵網視野移動到原子級圖像視野移動都能進行。
·SpecPorter(自動插入和拔出樣品桿的裝置)
·插入和拔出樣品桿,對電鏡初學者來說一直是高難度的操作。 JEM-F200配備的SpecPorter,即使新手也能輕松掌握,將樣品桿安裝在的位置上,只用一個按鈕即能安全地插入或拔出。
·改進的冷場發射電子槍
·JEM-F200能安裝高穩定性、高亮度和高能量分辨率的冷場發射電子槍(選配),該槍的利用可以進行EELS化學結合狀態分析,高亮度的電子束縮短了分析時間,并且還降低了來自光源的色差,實現了高分辨率的觀察。
·雙能譜(SDD)
·JEM-F200能同時安裝兩個大口徑、分析靈敏度高的硅漂移檢測器(SDD)(選配件)。 憑借更高的靈敏度,EDS分析速度更快,對樣品的損傷更小。
·環保節能
·JEM-F200是個標配了ECO模式的透射電子顯微鏡。ECO模式系統能將能源消耗降低到正常模式時的1/5,可以在裝置不運行時,以最小的能耗保持著電鏡的條件。該設備具有排程功能,能在的時間將電鏡從ECO模式恢復到工作狀態。
超高分辨極靴 高分辨極靴
分辨率 | ||
TEM點分辨率 | 0.19 nm | 0.23 nm |
STEM-HAADF 像 | 0.14 nm @冷場槍 | 0.16 nm @冷場槍 |
0.16 nm @熱場槍 | 0.19 nm @熱場槍 | |
加速電壓 | 200 , 80 kV | 200 , 80 kV |
主要選配件 | 能譜儀(EDS)、電子能量損失譜儀(EELS)、CCD相機、TEM/STEM斷層掃描系統 |
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