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深圳市科時達電子科技有限公司
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TheHysitronPI89掃描電鏡聯用納米壓痕儀利用掃描電子顯微鏡（SEM、FIB/SEM）的成像能力，可以在成像的同時進行定量納米力學測試
The Hysitron PI 89 掃描電鏡聯用納米壓痕儀利用掃描電子顯微鏡（SEM、FIB/SEM）的成像能力，可以在成像的同時進行定量納米力學測試。這套全新系統搭載 Bruker 的電容傳感技術，繼承了市場的批商業化原位 SEM 納米力學平臺的優良功能。該系統可實現包括納米壓痕、拉伸、微柱壓縮、微球壓縮、懸臂彎曲、斷裂、疲勞、動態測試和力學性能成像等功能。
控制和性能
具有固有的位移控制，位移范圍從
Hysitron PI 89的緊湊設計允許的樣品臺傾斜，以及測試時成像的最小工作距離。PI 89為研究者提供了比競爭產品更廣闊的適用性和性能：
重新設計的結構增加適用性和易用性
1 nm精度的線性編碼器實現更大范圍下更好的自動測試定位重復性
更高的框架剛度(~ x 106 N/m)提供測試過程更好的穩定性
兩種旋轉/傾斜模式實現城鄉、FIB加工、以及各種探測器的聯用，包括EDS, CBD, EBSD, and TKD等。
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