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上海洛豐精密檢測儀器有限公司
EVO系列電鏡是高性能、功能強大的高分辨應用型掃描電子顯微鏡。MA 10用于材料領域,LS 10用于生命科學領域。該系列電鏡采用多接口的大樣品室和藝術級的物鏡設計,提供高低真空成像功能,可對各種材料表面作分析,并且具有業界的X射線分析技術。革命性的Beamsleeve的設計,確保在低電壓條件下提供高分辨率的銳利圖像,同時還可以進行準確的能譜分析。樣品臺為五軸全自動控制。標準的高效率無油渦輪分子......
技術參數:
分辨率: | 3.0nm@ 30KV(SE and W) | 4.0nm@ 30KV(VP with BSD) |
加速電壓 | 0.2—30KV | |
放大倍數 | 7—1000000x | |
探針電流 | 0.5PA-5μA | |
X-射線分析工作距離 | 8.5mm 35度接收角 | |
低真空壓力范圍 | 10—400Pa (LS10:10-3000Pa) | |
工作室 | 310mm(φ)×220mm(h) | |
5軸優中心自動樣品臺 | X=80mm Y=100mm Z=35mm T=-10°- 90°R=360° | |
較大試樣高度 | 100mm | |
大試樣直徑 | 200mm | |
系統控制 | 基于Windows 7 的SmartSEM操作系統 | |
存儲分辨率 | 32,000 x 24,000 pixels |
產品應用:
◆掃描電鏡(SEM)廣泛地應用于金屬材料(鋼鐵、冶金、有色、機械加工)和非金屬材料(化學、化工、石油、地質礦物學、橡膠、紡織、水泥、玻璃纖維)等檢驗和研究。在材料科學研究、金屬材料、陶瓷材料、半導體材料、化學材料等領域進行材料的微觀形貌、組織、成分分析,各種材料的形貌組織觀察,材料斷口分析和失效分析,材料實時微區成分分析,元素定量、定性成分分析,快速的多元素面掃描和線掃描分布測量,晶體、晶粒的相鑒定,晶粒尺寸、形狀分析,晶體、晶粒取向測量。
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