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表面粗糙度·輪廓測量儀SV-C3200/C4500

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產品型號SV-C3200/SV-C4500

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更新時間：2022-12-19 16:17:11瀏覽次數：385次

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上海洛豐精密檢測儀器有限公司

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產品簡介

表面粗糙度測量功能高分辨力型Z1軸檢出器作為標準件提供。Z1軸的顯示分辨力為0.0001μm(測量范圍為8μm時)。X軸內置高精度玻璃光柵尺，直接讀取X軸移動距離，在高精度精準定位下，完成間距參數的評價。檢出器測力有4mN和0.75mN可選。輪廓測量功能Z1軸(檢出器)上配有高精度弧形光柵尺和新型測臂。高精度弧形光柵尺能直接讀取測針的弧形軌跡，以實現高精度和高分辨力。與傳統型號相比，新

詳細介紹

規格：

貨號		SV-C3200S4	SV-C3200H4	SV-C3200W4	SV-C3200S8	SV-C3200H8	SV-C3200W8
		SV-C4500S4	SV-C4500H4	SV-C4500W4	SV-C4500S8	SV-C4500H8	SV-C4500W8
? 測量表面粗糙度時
測量范圍	X軸(驅動部）	100mm			200mm
	Z1軸(檢出器）	800μm/80μm/8μm
直線度		(0.05+L/1000)μm L:驅動長度(mm）			0.5μm/200mm
分辨力	Z1軸(檢出器）	0.01μm ( 800μm ) , 0.001μm ( 80μm ) , 0.0001μm ( 8μm
測力		0.75mN ( 機身代碼末尾帶 "-1" 的型號 )
		4mN (機身代碼末尾帶 "-2" 的型號）
測針針尖形狀		60o, 2μmR ( 機身代碼末尾帶 "-1" 的型號 )
		90o, 5μmR ( 機身代碼末尾帶 "-2" 的型號）
對應尺寸		JIS1982/ JIS1994/ JIS2001/ ISO1997/ ANSI/ VDA
評價參數		Pa,Pq,Psk,Pku,Pp,Pv,Pz,Pt,Pc,PSm,Pq,Pmr(C),Pmr,Pc,Ra,Rq,Rsk,Rku,Rp,Rv,Rz,
		Rt,Rc,RSm,Rq,Rmr(C),Rmr,Rc,Wa,Wq,Wsk,Wku,Wp,Wv,Wz,Wt,Wc,WSm,Wq,
		Wmr(C),Wmr,Wc,Rk,Rpk,Rvk,Mr1,Mr2,A1,A2,Rx,AR,R,Wx,AW,W,Wte,Ry,RyDIN,
		RzDIN,R3y,R3z,S,HSC,Lo,Ir,a,a,q,Vo,Htp,NR,NCRX,CPM,SR,SAR,NW,SW,SAW
評價輪廓		原始輪廓、粗糙度輪廓、濾波波紋輪廓、波紋輪廓、滾動圓波形原始輪廓、滾動圓波形輪廓、包絡殘余線、 DF 輪廓 ( DIN4776 / ISO13565-1 ) 、表面粗糙度 MOTIF(包絡波紋輪廓在評價 MOTIF 時顯示）

分析圖		負荷曲線、振幅分布曲線、功率譜、自相關、 Walsh 功率譜、 Walsh 自相關、分布、傾斜角分布、參數分布(磨損量、重疊在輪廓分析可以用于面積等的原始分析）

曲線補償		最小平方直線、 R 面補償、橢圓補償、拋物線補償、雙曲線補償、二次曲線補償、多項式補償 ( 自動或任意 2~7 次 ) 、無補償

曲線補償		高斯濾波器 , 2CRPC75, 2CRPC50, 2CR75, 2CR50, 魯棒樣條濾波器
? 輪廓測量
測量范圍	X軸(驅動部）	100mm			200mm
	Z1軸(檢出器）	60mm ( 測臂水平位置 ±30mm
直線度		0.8μm/100mm			2μm/200mm
精度	X軸(驅動部)
	Z1軸(檢出器）	SV-C3200系列:±(1.6+\|2H\|/100)μm,SV-C4500系列:±(0.8+\|2H\|/100)μm
		H: 水平位置上的測量高度 ( mm )
分辨力	X軸(驅動部）	0.05 μm
	Z1軸(檢出器）	SV-C3200 系列 : 0.04μm, SV-C4500 系列 : 0.02μm
	Z2軸(立柱）	1 μm
測力		SV-C3200 系列 : 30mN ( 可調使用重量）
		SV-C4500 系列 : 10, 20, 30, 40, 50mN ( 根據軟件轉換）
測頭方向		SV-C3200 系列 : 垂直方向 ( 向上 / 向下單獨測量 )
		SV-C4500 系列 : 垂直方向 ( 向上 / 向根據配重調整）
? 通用時
Z2軸(立柱)移動量		300mm	500mm		300mm	500mm
X 軸傾斜角度		±45o
驅動速度	X軸	0 - 80mm/s 外加手動
	Z2軸(立柱)	0 - 30mm/s 外加手動
測量速度		0.02 - 5mm/s