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武漢科賽思機電有限公司
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英國泰勒霍普森CCISunStar非接觸式光學輪廓儀無論對分析速度的要求有多高，我們創新的CCISunStar非接觸式光學輪廓儀都能為您提供精密的3D表面測量結果
英國泰勒霍普森CCI SunStar非接觸式光學輪廓儀
無論對分析速度的要求有多高，我們創新的CCI SunStar非接觸式光學輪廓儀都能為您提供精密的3D表面測量結果。 高分辨率相機與1/10埃垂直分辨率相結合，無論是測量非常粗糙的表面，還是測量極其光滑的表面，都能獲得令人不可思議的詳細分析。
CCI SunStar極大地擴展了分析能力，同時又不至于讓分析程序變得更復雜。 您可以測量各種各樣的元件和表面，不需要進行復雜的測量模式切換，也不會給中間透鏡的校準增加額外的負擔。 通過標準化的方法、程序和，CCI SunStar可輕松地整合到您的質量管理系統中。
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