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英國泰勒霍普森CCI非接觸式光學輪廓儀
無論對分析速度的要求有多高,我們創新的CCI光學裝置非接觸式光學輪廓儀都能為您提供精密的3D表面測量結果。 高分辨率相機與1/10埃垂直分辨率相結合,無論是測量非常粗糙的表面,還是測量極其光滑的表面,都能獲得令人不可思議的詳細分析。
CCI光學裝置與光學研究人員和科學家的知識保持與時俱進,能滿足光學領域的嚴苛測量要求。 CCI光學裝置將強大的尺寸及粗糙度分析軟件與的工程設計融于一體,是一種非常適合用于粗糙度測量的檢驗工具。 CCI的薄膜厚度測量功能,進一步完善了為光學工業而設計的出色計量包裝 。
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