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北京愛歐德儀器設備有限公司
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X射線衍射儀型號：AOD3700型一、AOD3700型X射線衍射儀（XRD）采用了一維陣列探測器，測試結果更加精確，大大縮短了測試時間。《X射線衍射儀》技術參數要求：1 X射線發生器部分 $r$：5kW；$r$：10~60kV 1kV/step；1
X射線衍射儀
型號：AOD3700型
一、AOD3700型X射線衍射儀（XRD）采用了一維陣列探測器，測試結果更加精確，大大縮短了測試時間。
《X射線衍射儀》技術參數要求：
1 X射線發生器部分
1.1額定輸出功率：5kW；
1.2管電壓：10~60kV 1kV/step；
1.3管電流：2~80mA 1mA/step；
1.4管電壓、管電流穩定度：≤0.005%；
1.5有過壓、過流、過功率、無壓、無水、循環水超溫等保護；
1.6kV、mA升降，光閘開關由微機控制功能；
1.7 X射線管：波紋陶瓷或金屬陶瓷、Cu靶、焦點1×10mm2（0.4×12mm2）、功率 2.4kW。
★2 測角儀及控制部分
2.1衍射圓半徑：樣品水平θ—θ結構，衍射圓半徑150mm~285mm（連續可調）；
2.2掃描方式：連續、步進、透射、Omg掃描方式，θs、θd臂單動或聯動；
2.3采用分動控制；采用伺服電機，光學編碼技術控制測角儀轉動，自動消空程、角度校正；角度定位速度：1500˚/min；
2.4測量方式：常規衍射或透射方式；
2.5測量范圍： 2θ：-30 ˚—161˚；
2.6角度轉動范圍：θs：-15 ˚—200 ˚，θd：-105 ˚—150 ˚
2.5連續掃描速度：：0.0012—120˚/min；
2.6*小步寬角度：0.0001˚；
2.7 2θ角度重復精度：0.0001˚；
2.8 全譜圖2θ角線性精度：≤±0.01˚。
★3記錄控制單元（觸摸屏，且采用PLC控制線路）
3.1測角儀及X射線發生器自動控制；
3.2探測器：陣列探測器；
線性計數率：1*109cps，無噪音；動態范圍：（bit）24;
通道數：640; 通道寬：（um）50;
能量分辨率（eV）：687±5; 讀出時間(us)： 89；
能譜范圍（KeV）：4-40；冷卻模式:空氣風冷;
2Theta覆蓋角度: >4.5度;操作使用環境:0℃到+50℃.
3.3測量標準樣品si粉，采樣時間0.1秒，步寬角度0.01 ˚時，主峰28.442 ˚的半峰寬優于0.075，且主峰分辨率≤85%。
3.4樣品測試速度是傳統探測器的幾十倍以上。
4 工作站部分：雙核、內存≥4G、硬盤≥500G、獨立顯卡、≥22寸LED, A4幅面數據輸出設備。
★5 射線防護及報警裝置
5.1鉛+鉛玻璃防護，具有射線防護門禁開功能，光閘窗口與防護罩連鎖，防護罩外射線計量不大于0.1μSv/h；
5.2防護標準：防護標準達到GBZ115-2002《X射線衍射儀和熒光分析儀衛生防護標準》的要求。取得省級或以上環保部門頒發的輻射安全許可證。X射線泄漏量≤0.1μSv/h。
6衍射儀控制、數據處理軟件
6.1支持Windows7操作系統的控制及應用軟件；
6.2自動控制X射線發生器的管電壓、管電流、光閘及射線管老化訓練；
6.3控制測角儀連續或步進掃描，同時進行衍射數據采集；
6.4對衍射數據進行常規處理：自動尋峰、手動尋峰、積分強度、峰高、重心、背景扣除、平滑、峰形放大、譜圖對比。.
7應用軟件部分：物相定性、定量分析、Kα1、α2剝離、全譜圖擬合、選峰擬合、半高寬和晶粒尺寸計算、晶胞測定、二類應力計算、衍射線條指標化、多重繪圖、3D繪圖、衍射數據校準、背景扣除、無標樣定量分析等功能、全譜圖擬合（WPF）、XRD衍射譜圖模擬。
8整機綜合穩定度：≤0.3% 。
更新時間：2021/11/23 15:54:42
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