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長沙在線儀器設備有限公司
X射線衍射儀
射 線衍射(XRD)、X射線散射技術和計算機X射線斷層掃描技術(CT)是多功能的、非破壞性的測試方法,能夠揭示各種類型的天然和人造材料的有關化學組 成、結晶學和微結構的詳細信息。帕納科公司為范圍很廣的XRD和X射線散射應用提供了技術全面的解決方案。我們的產品為包括材料研究、大學及研究院所、建 筑材料、金屬、礦物、塑料制品、醫藥品和半導體的眾多領域提供了高精度的分析。帕納科的設備系統有的應用專業技術和技術全面的軟件工具的強力 支持。用戶們關于帕納科的系統是可想象的技術、最物超所值的衍射解決方案的報道使我們感到十分自豪。
X'Pert PRO MRD and MRD XL | 成功的薄膜分析標準 | 針對薄膜的研究和生產控制——大到4英寸(MRD)或200mm(MRDXL)的全晶片測試 , 可用C-to-C晶片樣品架自動完成 |
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