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北京創誠致佳科技有限公司
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描述： Sigma 300 性價比高。Sigma 500 裝配有**的背散射幾何探測器，可快速方便地實現基礎分析。任何時間，任何樣品均可獲得精準可重復的分析結果。將高級的分析性能與場發射掃描技術相結合，利用成熟的 Gemini 電子光學元件。多種探測器可選：用于顆粒、表面或者納米結構成像。Sigma 半自動的4步工作流程節省大量的時間：設置成像與分析步驟，提高......
簡介 ：
靈活的探測，4步工作流程，高級的分析性能
將高級的分析性能與場發射掃描技術相結合，利用成熟的 Gemini 電子光學元件。多種探測器可選：用于顆粒、表面或者納米結構成像。Sigma 半自動的4步工作流程節省大量的時間：設置成像與分析步驟，提高效率。
Sigma 300 性價比高。Sigma 500 裝配有**的背散射幾何探測器，可快速方便地實現基礎分析。任何時間，任何樣品均可獲得精準可重復的分析結果。
l 利用探測術為您的需求定制 Sigma，表征所有樣品。
l 利用 in-lens 雙探測器獲取形貌和成份信息。
l 利用新一代的二次探測器，獲取高達50%的信號圖像。在可變壓力模式下利用 Sigma 創新的 C2D 和 可變壓力探測器，在低真空環境下獲取高達85%對比度的銳利的圖像。
l 4步工作流程讓您控制 Sigma 的所有功能。在多用戶環境中，從快速成像和節省培訓首先，先對樣品進行導航，然后設置成像條件。
l 首先，先對樣品進行導航，然后設置成像條件。
l 接下來對樣品感興趣的區域進行優化并自動采集圖像。**使用工作流程的**一步，將結果可視化。
l 將掃描電子顯微鏡與基本分析相結合：Sigma **的背散射幾何探測器大大提升了分析性能，特別是對電子束敏感的樣品。
l 在一半的檢測束流和兩倍的速度條件下獲取分析數據。
l 獲益于8.5 mm 短的分析工作距離和35°夾角，獲取完整且無陰影的分析結果。
l Gemini 鏡頭的設計結合考慮了電場與磁場對光學性能的影響，并將場對樣品的影響降至更低。這使得即使對磁性樣品成像也能獲得出色的效果。
l Gemini in-lens 的探測確保了信號探測的效率，通過二次檢測(SE)和背散射(BSE)元件同時減少成像時間。
l Gemini 電子束加速器技術確保了小的探測器尺寸和高的信噪比。
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