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北京創誠致佳科技有限公司
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實驗室顯微設備C2+共聚焦顯微鏡系統是新研發的Nikon共聚焦儀器的*部分，新開發的產品為必要的實驗室顯微鏡工具
實驗室顯微設備
C2+共聚焦顯微鏡系統是新研發的Nikon 共聚焦儀器的*部分，新開發的產品為必要的實驗室顯微鏡工具。由于產品有令人難以置信的穩定性，操作簡易，且有*的光學性能和高速圖像采集（可達100 幀/秒*）能力。 C2+可作為出色顯微鏡工具（新購置），或將已有的尼康顯微鏡升級為C2+共聚焦系統。
配置Ni-E正置顯微鏡
| 圖像質量
Nikon 的光學組件和久經考驗的高效光學設計可在最遠的工作距離下提供最明亮與最清晰的圖像。
? 高效掃描頭和檢測器
具備方便小巧的掃描頭， 使C2+可用于各類Nikon 顯微鏡。C2+使用高精度振鏡與優質圓形光學針孔，分離式檢測有效隔離熱原同噪音，可獲取低噪音，高對比度與高品質的共聚焦圖像。新開發的掃描驅動系統和Nikon的圖像校正技術，允許8幀/秒（512 x 512像素）和100 幀/秒（512 x 32 像素）的高速成像。
? 高性能光學鏡頭
CFI復消色差λS系列
此系列高數值孔徑（NA）物鏡為共聚焦拍攝的理想之選，其對寬波長范圍自紫外光具有色差校正功能。尤其是LWD 40 ×WI物鏡色差校正可達紅外范圍。使用Nikon的納米晶體涂層技術可有效增加光線透過率。
CFI Apochromat 40xWI λS, NA1.25 (左)；CFI Apochromat LWD 40xWI λS, NA1.15 (中)；CFI Apochromat 60x Oil λS, NA1.4 (右)
CFI復消色差TIRF 系列
此系列物鏡的NA值為1.49 （使用標準的蓋玻片和浸油），在Nikon物鏡中具備**的分辨率。配備溫度校正環可在23°C～37°C溫度范圍對圖像質量進行校正。
CFI Apochromat TIRF 60x oil, NA1.49 (左)；CFI Apochromat TIRF 100x oil, NA1.49 (右)
? 高清晰度微分干涉（DIC）圖像
C2+能同時獲得三個通道的熒光，或同時實現三通道熒光與透射微分干涉（DIC）的觀察。高品質DIC圖像和熒光圖像可以疊加,以便進行形態分析。
DIC圖像 DIC+熒光圖像
| 高功能
高效圖像處理軟件NIS-Elements提供各種圖像處理和分析功能。并可從圖像中提取數據。此外，NIS-Element 可實現Nikon 顯微鏡和其他*三方外設，如EMCCD相機和濾光輪的直接操作，使其可適用于各類實驗應用。
? 多種拍攝模式
單*軟件包即可提供各種成像方法，如共聚焦、寬視野、TIRF 、光活化，并同時具有圖像的處理、分析和呈現的功能。用戶可在統*的界面與工作流程中輕松掌握控制不同的成像系統。
易于辨識的激光與探測器設置 掃描闡述設置
| 靈活性
C2+可與正置、倒置、電生理和宏觀成像顯微鏡聯合使用，且可以與各種高質量研究試驗系統聯合使用。可用NIS-Element 軟件控制所有的尼康顯微鏡系統。
? TIRF/光活化-C2+多模式成像系統
可整合選配的TIRF 激光照明模塊和與光活化模塊，實現高S/N比單分子成像，并捕捉光活化與光轉化中熒光蛋白熒光特征變化圖像。
? AZ-C2+宏觀共聚焦系統
在高清晰度的大視野下，超過1 cm的大樣本都可獲取高S/N比的圖像。AZ-C2+可獲取完整樣品的圖像，如胚胎，單次拍照，高達2048×2048像素分辨率，并可使用C2si+獲得32通道光譜數據。可將低倍率與高倍率物鏡，光學變焦和共焦掃描變焦功能相結合，從宏觀到微觀連續成像。
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