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廣州市淘儀貿易有限公司
可靠光學測量,通知可量化的研發和QA/QC決定。真色、成像揭示以前隱藏的微觀細節。柔韌、分期和固定,根據您的具體樣本和應用情況量身定做。
自動化Contour Elite X三維光學剖面儀結合了****的測量能力,在業界*大的視野和高保真度彩色或單色成像的*高垂直分辨率。沒有任何其他計量系統提供非接觸式精度、吞吐量、操作人員方便和成像能力來解決如此廣泛的生產計量應用。為滿足*苛刻的研發、質量保證和過程質量控制需求而設計,Contour Elite X提供了*終的量具能力三維光學剖面解決方案。
彩色成像與計量相結合
額外的高保真彩色成像,一家側照明和**的算法,使等Contour Elite X用戶訪問額外的視角,無法提供的系統,單獨提供計量學,以及提供可識別的表面特征細節的報告能力。這使用戶能夠根據顏色或灰度信息分割數據,以快速選擇感興趣的區域,并從這些特定區域收集關鍵的計量數據。將優異計量學與觀察、識別和顯示測量結果的能力結合起來,不僅對于理解數據,而且對于交流結果,都是非常重要的。
*佳橫向和縱向分辨率
Contour Elite X系統擁有*好的組合橫向和縱向分辨率超過行業的*大視野,有一個亞納米到大于10毫米的垂直范圍。它包括研發100獎的針灸XR測量技術,它提供了打破衍射極限在您的光學測量。此外,該系統還可以使用一個百萬像素的相機來提高X-Y空間分辨率.從1倍到115倍的大視場和客觀放大使得能夠描述極其廣泛的表面形狀和紋理。
快速無損成像
Contour Elite X型剖析器是一個非接觸系統與一個大的舞臺,使您的樣本或部分完整和未損壞。我們的*利白光干涉測量(WLI)技術獲得高度數據的亞納米精度,是獨立于放大使用。這意味著,即使在一毫米范圍內采樣超過一百萬個數據點--平方圖像區域,用戶也能夠在幾秒鐘內收集到高分辨率的高度數據。
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